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GOST 27981.2-88

STAATLICHE NORM P 57376-2016 GOST 193-2015 GOST 27981.5-2015 GOST 27981.2-2015 GOST 27981.1-2015 GOST 13938.11-2014 GOST P 56240-2014 GOST 859-2014 GOST P 55685-2013 GOST P 54922-2012 STAATLICHE NORM P 54310-2011 GOST 31382-2009 GOST P 52998-2008 GOST 859-2001 GOST 6674.4-96 GOST 6674.3-96 GOST 6674.2-96 GOST 6674.1-96 GOST 4515-93 GOST 28515-97 GOST 17328-78 GOST 614-97 GOST 15527-70 GOST 13938.13-77 GOST 13938.13-93 GOST 1020-77 GOST 5017-2006 GOST 1652.11-77 GOST 15027.12-77 STAATLICHE NORM 15027.11-77 GOST 493-79 GOST 1953.9-79 GOST 23859.2-79 GOST 1953.5-79 GOST 1953.3-79 GOST 1953.12-79 GOST 1953.6-79 GOST 15027.18-86 GOST 27981.2-88 GOST 27981.5-88 GOST 15027.5-77 GOST 1652.12-77 GOST 15027.8-77 GOST 1652.7-77 GOST 15027.6-77 GOST 15027.7-77 GOST 1652.2-77 GOST 1652.4-77 GOST 15027.2-77 GOST 1652.8-77 GOST 1652.3-77 GOST 13938.6-78 GOST 13938.7-78 GOST 13938.1-78 GOST 13938.2-78 GOST 13938.4-78 GOST 13938.8-78 GOST 13938.10-78 GOST 13938.12-78 GOST 23859.8-79 GOST 1953.1-79 GOST 613-79 GOST 9716.2-79 GOST 23912-79 GOST 23859.1-79 GOST 23859.4-79 GOST 1953.2-79 GOST 20068.1-79 GOST 9717.3-82 GOST 9717.1-82 GOST 27981.4-88 GOST 28057-89 GOST 6674.5-96 GOST 23859.11-90 GOST 24978-91 GOST 15027.14-77 GOST 15027.10-77 GOST 15027.4-77 GOST 1652.6-77 GOST 1652.10-77 STAATLICHE NORM 15027.9-77 GOST 13938.5-78 GOST 13938.11-78 GOST 18175-78 GOST 13938.3-78 GOST 23859.6-79 GOST 1953.4-79 GOST 1953.8-79 GOST 1953.7-79 GOST 23859.9-79 GOST 1953.11-79 GOST 1953.15-79 GOST 1953.10-79 GOST 1953.16-79 GOST 23859.5-79 GOST 23859.3-79 GOST 9716.3-79 GOST 1953.14-79 GOST 15027.16-86 GOST 15027.17-86 GOST 27981.6-88 GOST 27981.1-88 GOST 15027.20-88 GOST 17711-93 GOST 1652.1-77 GOST 15027.13-77 GOST 1652.5-77 GOST 15027.1-77 GOST 1652.13-77 GOST 1652.9-77 GOST 15027.3-77 GOST 13938.9-78 GOST 23859.10-79 GOST 193-79 GOST 20068.2-79 GOST 1953.13-79 GOST 23859.7-79 GOST 9716.1-79 GOST 20068.3-79 GOST 24048-80 GOST 9717.2-82 GOST 15027.15-83 GOST 15027.19-86 GOST 27981.3-88 GOST 20068.4-88 GOST 27981.0-88 GOST 13938.15-88 GOST 6674.0-96

GOST 27981.2−88 Kupfer hoher Reinheit. Methode chemisch-atomar-Emittenten-Analyse


GOST 27981.2−88

Gruppe В59


DER STAATLICHE STANDARD DER UNION DER SSR


KUPFER HOHER REINHEIT

Methode chemisch-atomar-Emittenten-Analyse

Copper of high purity. Method of chemical-atomic-emission analysis


ОКСТУ 1709

Geltung ab 01.01.1990
bis 01.01.2000*
_______________________________
* Beschränkung der Laufzeit aufgehoben
über N 7−95 Zwischenstaatlichen Rats
für Normung, Metrologie und Zertifizierung
(IUS N 11, 1995). — Anmerkung des Datenbankherstellers.


INFORMATION

1. ENTWICKELT UND EINGEFÜHRT durch das Ministerium für Metallurgie der UdSSR

KÜNSTLER:

A. M. Копанев, E. N. Hilbert, L. N. Шабанова, I. D. Denisov, G. L. Бухбиндер, B. M. Hörner, E. N. Гадзалов, I. I. Lebed

2. GENEHMIGT UND IN Kraft gesetzt durch die Verordnung des Staatlichen Komitees der UdSSR nach den Standards von 22.12.88 N 4443

3. Termin für die erste Prüfung — 1994

Häufigkeit der überprüfung — 5 Jahre

4. EINGEFÜHRT ZUM ERSTEN MAL

5. REFERENZIELLE NORMATIV-TECHNISCHE DOKUMENTE

   
Bezeichnung NTD, auf welche verwiesen wurde
Die Nummer der Partition
GOST 83−79
2
GOST 123−78
2
GOST 195−77
2
GOST 244−76
2
GOST 849−70
2
GOST 859−78
2
GOST 1467−77
2
GOST 1770−74
2
GOST 2603−79
2
GOST 3640−79
2
GOST 3773−72
2
GOST 4160−74
2
GOST 4233−77
2
GOST 4332−76
2
GOST 5905−79
2
GOST 6008−82
2
GOST 6563−75
2
GOST 6709−72
2
GOST 9428−73
2
GOST 10928−75
2
GOST 11125−84
2
GOST 14261−77
2
GOST 18.300−87
2
GOST 19627−74
2
GOST 20292−74
2
GOST 23463−79
2
GOST 24104−88
2
GOST 24363−80
2
GOST 25086−87
5.4
GOST 25336−82
2
GOST 25664−83
2
GOST 27981.0−88
1.1
GOST 27981.1−88
3.1, 3.4



Diese Norm legt die chemisch-atomar-Methode zur Bestimmung der Emission von Verunreinigungen in hochreinem Kupfer im Bereich der Massen-Anteil ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа%:

   
Wismut
von 0,01 bis 1,0;
Eisen
«0,1» 5,0;
Cadmium
«0,003» 1,0;
Kobalt
«0,01» 1,0;
Silizium
«0,1» 5,0;
Mangan
«0,01» 1,0;
Chrom
«0,005» 1,0;
zinn
«0,01» 1,0;
Nickel
«0,01» 1,0;
Zink «0,5» 10,0.



Die Methode besteht in der Auflösung von Kupfer in der Probe der Mischung von Salzsäure und Wasserstoffperoxid, die Trennung des Kupfers von Verunreinigungen durch Extraktion mit di-2-этилгексилдитиофосфорной Säure, ein Konzentrat Verunreinigungen auf графитовом Pulverform mit Träger — Natrium und chlorhaltigen Konzentrat Analyse atomarer Emission der Methode im Bogen des Gleichstroms mit der fotografischen Registrierung des Spektrums.

1. ALLGEMEINE ANFORDERUNGEN

1.1. Allgemeine Anforderungen an die Methode der Analyse und die Forderungen der Sicherheit bei der Ausführung der Analysen nach GOST 27981.0.

1.2. Massive Anteil von Verunreinigungen in hochreinem Kupfer sondern parallel in drei Dosierung.

2. GERÄTE, REAGENZIEN UND LÖSUNGEN


Quarz-Spektrographen mittlerer Dispersion des Typs ICP-30 mit трехлинзовой Beleuchtungssystem oder Spektrograph Typ Set-1.

Konstantstromquelle zur Versorgung des Bogens, wodurch die Spannung In 200−400 und Stromstärke bis zu 12 A.

Спектропроектор.

Микрофотометр.

Elektromechanische Verwürfelungsvorrichtung oder das Gerät zum mischen von Flüssigkeiten, Z. B. Typ AVB-4P.

Fliesen Elektro.

Elektroofen Muffelofen, industriemuffelofen mit Thermostat, die Temperatur der Erwärmung 900−950 °C.

Analysenwaagen Labor jede Art der 2. Klasse der Genauigkeit der Wägung mit einer Genauigkeit von GOST 24104*.
_______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation gilt GOST 24104−2001. — Anmerkung des Datenbankherstellers

Technische Personenwaage jeglicher Art mit einer Fehlerquote Gewichtung gemäß dem beigefügtem Pass.

Waage jede Art von Torsion mit einer Fehlerquote Gewichtung gemäß dem beigefügtem Pass.

SCHLEIFMASCHINE Graphitelektroden.

Boxen aus organischem Glas Typ 8БП-1-OS für die Vorbereitung der Proben zur spektralen Analyse (oder andere Art).

Die Boxen sind aus organischem Glas Typ 2БП2-Betriebssystem für die Chemische Probenvorbereitung mit gereinigtem durch den Stoff Петрянова Luft (oder andere Art).

Befestigungen aus organischem Glas für die Vorbereitung der Proben zur spektralen Analyse (Ständer für Graphitelektroden, spachteln, набивалки etc.).

Schalen Platin nach GOST 6563.

Glas abdecken.

Mörser und Pistill aus organischem Glas, oder Stupka агатовая, oder Mörser Porzellan.

Gläser mit PTFE-завинчивающимися oder притертыми Deckeln mit einer Kapazität von 20−25 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа.

Schüssel выпарительные Quarz-oder PTFE-oder Porzellan mit einer Kapazität von 25 und 100 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа.

Graphit-Elektroden, geschnitzt aus einem Graphit-Stab OSCH-7−3 mit einem Durchmesser von 6 mm, auf geschliffene Kegel mit einem scheitelwinkel von 15° und mit einem Durchmesser von 1,5 mm am Ende.

Graphit-Elektroden mit einem Durchmesser von 6 mm Kanal mit einer Tiefe von 3 mm und einem Durchmesser von 4 mm, geschnitzt aus einem Graphit-Stab OSCH-7−3.

Graphit Pulver nach GOST 23463 Marke OSCH-7−3.

Pulver Graphit, gewonnen wird Spektral reinen Graphit-Elektroden.

Lampe Infrarot.

Platte fotografische Typ 1 und Typ 2, die normale почернения analytischen Linien und nahe gelegenen hintergrund im Spektrum.

Die Gläser N-1−100 TCS nach GOST 25336.

Gläser In-1−1000 TCS nach GOST 25336.

Kolben konisch Kn-2−2000 TCS nach GOST 25336.

Trichter делительная VD-1−100 XC nach GOST 25336.

Trichter делительная VD-3−2000 XC nach GOST 25336.

Becher mit einem Fassungsvermögen von 50 und 1000 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаnach GOST 1770.

Messkolben 2−100−2, 2−200−2 nach GOST 1770.

Pipetten 4−2-1, 4−2-2, 5−2-2, 6−2-5, 6−2-10 nach GOST 20292*.
________________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation gelten GOST 29169−91, GOST 29227−91-GOST 29229−91, GOST 29251−91-GOST 29253−91. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Entwickler:

   
метол (4-метиламинофенолсульфат) nach GOST 25664
— 2,2 G
Natrium сернистокислый nach GOST 195
— 96 G
Hydrochinon (парадиоксибензол) nach GOST 19627
— 8,8 G
Natriumcarbonat nach GOST 83
— 48 G
Kalium бромистый nach GOST 4160
— 5 G
destilliertes Wasser nach GOST 6709

— bis zu 1000 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

Erlaubt kontrastreiche Entwickler einer anderen Zusammensetzung.
 
Fixer:
 
Natriumthiosulfat kristallin nach GOST 244
— 300 G
Ammonium muriate nach GOST 3773
— 20 G
destilliertes Wasser nach GOST 6709

— bis zu 1000 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа


Zugelassen фиксажных Lösungen anderer Zusammensetzung.

Aceton nach GOST 2603.

Salpetersäure Reinheitsgrad nach GOST 11125, verdünnte 1:1.

Salzsäure Reinheitsgrad nach GOST 14261, verdünnte 1:1, 1:2,5; 1:10.

Peroxid von Wasserstoff Reinheitsgrad (stabiles Produkt).

Das chlorhaltige Natrium nach GOST 4233, eine Lösung von 40 G/DMГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа.

Das kohlensauere Kalium — Natriumcarbonat nach GOST 4332.

Kaliumhydroxid nach GOST 24363.

Hexan.

Säure — di-2-этилгексилдитиофосфорная (di-2-ЭГДТФК), gereinigtes.

Ethylalkohol rektifiziert nach GOST technische 18300.

Eisen, empfangene карбонильным Weg, OSCH-6−2.

Wismut nach GOST 10928* Marke Ви00.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation gilt GOST 10928−90. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Cadmium nach GOST 1467* Marke Кд0.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation gilt GOST 1467−93. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Kobalt nach GOST 123* Marke K0.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation gilt GOST 123−98 (seit 01.07.2009 gilt GOST 123−2008). — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Siliciumdioxid nach GOST 9428.

Mangan nach GOST 6008* Marke MR 00 oder Herr 0.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation gilt GOST 6008−90. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Kupfer nach GOST 859* Marke М0к.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation gilt GOST 859−2001. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Chrom nach GOST 5905* Marke Х00.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation gilt GOST 5905−2004. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Nickel nach GOST 849* Marke x0.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation gilt GOST 849−97 (seit 01.07.2009 gilt GOST 849−2008). — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Zink nach GOST 3640* Marke Ц0.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation gilt GOST 3640−94. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Standard-Probe Zusammensetzung des Kupfers.

3. VORBEREITUNG FÜR DIE ANALYSE

3.1. Zubereitung von Standardlösungen der Elemente nach Anspruch 2.2.1 GOST 27981.1.

3.2. Zubereitung von Standardlösungen mehrteilig

3.2.1. Zubereitung der Lösung 1

In einen Messkolben überführt und mit 100 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаverabreicht 15 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаSalzsäure, 2 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаvon Standardlösungen Und Cadmium, Kobalt und Chrom, bis zur Markierung mit Wasser aufgefüllt.

1 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаLösung 1 enthält 20 µg Cadmium, Kobalt, Chrom.

3.2.2. Vorbereitung der Lösung 2

In einen Messkolben überführt und mit 100 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаverabreicht 15 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаSalzsäure, 5 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаLösung 1 und führen bis zur Markierung mit Wasser.

1 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаLösung 2 enthält 1 µg Cadmium, Kobalt, Chrom.

3.2.3. Vorbereitung und Bescheinigung der synthetischen Mischung nach Anspruch 2.2.3 GOST*
______________
* Entspricht dem Original. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

3.3. Probenvorbereitung Vergleiche auf der Basis графитового Pulver mit einem Massenanteil Natriumchlorid 4%

3.3.1. Zubereitung графитового Pulver, mit 4% Natriumchlorid

9,600 G графитового Pulver wurde in einer фторопластовую (oder aus einem anderen Material) Schüssel mit einem Fassungsvermögen von 100 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа, 10 cm Gießen Sie dieГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаKochsalzlösung getrocknet und die Mischung zunächst auf die Kachel, und dann unter der Wärmelampe. Die resultierende Mischung wird in einem Mörser vermischen innerhalb von 1,5 Stunden und Bewahren Sie die Mischung in einem dicht geschlossenen фторопластовом (oder aus einem anderen Material) Glas.

3.3.2. Zubereitung der Haupt-Referenzwerte (OOS)

Bereiten eine Probe des Vergleichs mit einem Massenanteil von jedem von einer Beimischung von 0,1%: in фторопластовую (oder aus einem anderen Material) Schüssel mit einem Fassungsvermögen von 100 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаplatziert 9,880 G графитового Pulver und Gießen Sie nacheinander durch 10 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаvon Standardlösungen Und Eisen, Cadmium, Kobalt, Wismut, Nickel, zinn, Mangan, Chrom, Zink und 20 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаStandardlösung Silizium. Verdampfen von Verunreinigungen der Lösungen auf графитовом Pulver wird unter IR-Lampe. Jede weitere Verunreinigung injiziert in gut getrocknete Graphitpulver. Nach Beendigung der Verdampfung von Graphit-Pulver enthaltende Verunreinigungen, die in Form von Lösungen, getrocknet bis gewichtskonstanz und in der Schüssel vermischen und dann in einem Mörser für 1 Stunde.

3.3.3. Zubereitung Arbeiter Proben den Vergleich (OS)

Proben Vergleich (ОС1-ОС9) bereiten serieller Verdünnung mit OOS und dann jedes weitere Betriebssystem Graphit-Pulver mit einem Massenanteil Natriumchlorid und 4%. Massive Anteil jeder von einer Verunreinigung in das Betriebssystem (in Prozent) und das Anbaugerät für den Erhalt der einzelnen OS sind in der Tabelle gezeigt.1. Die Probe wird in einem Mörser sorgfältig peretirajut in Anwesenheit von Ethanol für 30 min getrocknet und unter einer Infrarot-Lampe.

Tabelle 1

       
Probe Vergleich Der Massenanteil der einzelnen definierten Verunreinigungen, % Die Masse der Probe, G
    графитового-Pulver mit einem Massenanteil Natriumchlorid und 4%
разбавляемого Probe (angegeben in Klammern)
ОС1

1·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

1,800 0,200 (OOS)
ОС2

3·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

1,400 0,600 (ОС1)
ОС3

1·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

1,333 0,667 (ОС2)
OS4

3·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

1,400 0,600 (ОС3)
ОС5

1·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

1,333 0,667 (OS4)
ОС6

3·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

1,400 0,600 (ОС5)
ОС7

1·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

1,333 0,667 (ОС6)
ОС8

3·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

1,400 0,600 (ОС7)
ОС9

1·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

1,333 0,667 (ОС8)



Proben Vergleiche bewahren in den dicht geschlossenen Bechern aus PTFE oder Kunststoff, oder aus einem anderen Material.

Alle Operationen nach der Vorbereitung der Proben Vergleich durchgeführt im Boxen aus organischem Glas, dann wischte die Wände Ethylalkohol. Auf eine Definition verausgabt 10 G Alkohol und 5 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаKattun.

3.4. Reinigung von technischen di-2-ЭГДТФК nach Anspruch 2.2.5 GOST 27981.1.

3.5. Die Festlegung des Volumens der Lösung von di-2-ЭГЛТФК* erforderlichen stöchiometrischen Extraktion
________________
* Entspricht dem Original. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Im scheidetrichter mit einer Kapazität von 100 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаwird 20 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаStandardlösung Kupfer und 26 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаLösung gereinigtes di-2-ЭГДТФК, führen Sie die Extraktion des Kupfers innerhalb von 15 min raffinat abgetrennt und bestimmen der Kupfergehalt darin, von einer beliebigen Methode, Z. B. durch Absorbtion in der Flamme Acetylen-Luft-oder Propan-Butan-Luft. 1 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаraffinat sollte 0,01−0,08 mg Kupfer. Wenn der Kupfergehalt mehr wieder Extraktion durchgeführt, indem entsprechend (abnehmende oder zunehmende) Menge der verwendeten Extraktionsmittel.

Die Festlegung des Volumens der Lösung von di-2-ЭГДТФК erforderlichen stöchiometrischen Extraktion, wird einmal für jede Partei Extraktionsmittel.

3.6. Die Auflösung der Proben

Wurde eine Probe die zu analysierende Probe Kupfer Masse 1,000 G wurden in ein Becherglas mit einem Fassungsvermögen von 100 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа. Zum entfernen von oberflächlichen Verunreinigungen, die Probe einmal gewaschen Salzsäure, verdünnt 1:10, und zweimal Wasser. Dicken Zylinder mit einer Kapazität von 25 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаin ein Glas Gießen 12 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаSalzsäure, ein Glas-Glas und injiziert unter Glas mit Hilfe der Pipette 3−5 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа30% igen Lösung von Wasserstoffperoxid. 2−3 min nach Beendigung der Reaktion zugegeben noch 3−5 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаPeroxid. Nach dem vollständigen auflösen der Probe das Glas stellen Sie auf den Fliesen, den Inhalt langsam zum Kochen bringen. Nach 3−5 Minuten ein Glas mit Fliesen entfernt und gekühlt.

3.7. Trennung von Kupfer

Das Glas mit einem Glas reinigen und die Lösung quantitativ in scheidetrichter einer Kapazität von 100 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа, mit 5−7 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаWasser. In den Trichter verabreicht гексановый eine Lösung von di -2-ЭГДТФК in dem Umfang, der in Anspruch 3.5. Kupfer wird innerhalb von 15−20 min raffinat abgetrennt und verlegen zurück in das Glas. Die organische Schicht wird verworfen, Trichter mit Aceton gewaschen und dann бидистиллятом. Raffinat zurück in den Trichter, fügen Sie ihm 20 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаHexan geschüttelt und innerhalb von 3−5 min zum entfernen von Rückständen von organischen Substanzen.

Raffinat abgetrennt und verlegen in die Tasse für die Verdampfung Kapazität von 50 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа. Dann wurden 100 mg графитового Pulver mit einem Massenanteil Natriumchlorid und 4%-igem und vorsichtig verdampft die Lösung unter die Infrarot-Lampe bei einer Temperatur von 80−100 °C.

Das erhaltene trockene Rückstand ist ein Konzentrat Verunreinigungen, sind Analyse.

3.8. Durchführung von Benchmarking Erfahrungen

In ein Glas mit einem Fassungsvermögen von 100 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаverabreicht dicken Zylinder 12 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаSalzsäure und 12 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа30% igen Lösung von Wasserstoffperoxid. Lösung wurde auf der Fliese bis zu der Zersetzung von Peroxid und tragen mit Hilfe von 3−5 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаWasser in die Tasse für die Verdampfung Kapazität von 50 cmГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа. Weiter — nach Anspruch 3.7.

Erlaubt die Durchführung von kontrollierenden Erfahrung mit der Verwendung einer Standard-Probe Zusammensetzung des Kupfers, Z. B. OSO А1921Х (nur für Elemente, deren Inhalt in MIT bestätigt). Für die nach der Methodik analysieren.

3.9. Rösten Elektroden

Für die Entfernung von oberflächlichen Verschmutzungen Elektroden kalziniert im Lichtbogen bei DC-12 Und innerhalb von 20 Sekunden rösten Reinigung unterzogen jedes paar von Elektroden direkt vor der Analyse, einschließlich der Elektrode in einem Bogen mit einem Kanal als Anode, und die Elektrode, Klausur auf den Kegel, als Kathode des Bogens.

4. DIE DURCHFÜHRUNG DER ANALYSE


Jedes Konzentrat, gewonnen aus der die zu analysierende Probe oder nach der Durchführung der Kontrolle Erfahrung, wurde in einem Kanal Graphitelektrode mit einem Durchmesser von 4 mm und einer Tiefe von 3 mm. Von jeder Probe Probe füllen nach zwei Elektroden. In den gleichen Kanal der Graphitelektroden platziert jeder von Proben vergleichen ОС1-ОС9.

Somit erhalten: sechs Elektroden mit dem Konzentrat des Versuches, drei Elektroden mit Konzentraten kontrollierenden Erfahrung und durch zwei Elektroden mit jeder der Proben Vergleich (ОС1, ОС2,… ОС9). Die Elektrode mit dem Konzentrat Verunreinigungen oder der Probe des Vergleichs dient die Anode (untere Elektrode). Kathode Bogen ist eine Graphit-Elektrode, Klausur auf den Kegel. Zwischen den Elektroden Lichtbogen zünden DC 10 A. Kraft Spektren fotografiert auf спектрографе. Teilziele Blende 5 mm Breite Spalt des Spektrographen 10 µm. Belichtungszeiten (bis zur vollständigen Burnout-Natrium) — 30 S. Während der Belichtung der Abstand zwischen den Elektroden unterstützen gleich 3 mm. Fotoplatten Verwendet Spectral: Art 1 für die Registrierung im Wellenlängenbereich bis 300 Nm; Typ-2 — Bereich für Wellenlängen 300−220 Nm.

Экспонированную фотопластинку zeigen, mit Wasser gewaschen, fixiert, in fließendem Wasser gewaschen und für 15 min und getrocknet.

5. DIE VERARBEITUNG DER ERGEBNISSE

5.1. In jedem Spektrogramm фотометрируют почернения analytischen Linie des Elements ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа(Tab.2) und in der Nähe hintergrund ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа(minimale Schwärzung neben der analytischen Linie eines Elements auf beiden Seiten, aber mit derselben in allen Spektren, aufgenommen auf einer Schallplatte) und berechnen die Differenz почернений ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа. Für jede der drei Chargen rechnen ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа(ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа=1, 2, 3) als das arithmetische Mittel aus den Werten ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа, die mit zwei спектрограммам ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа; ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа. Auf drei Werte ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа(ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа=1, 2, 3), berechnet für jede Probe, die finden das arithmetische Mittel ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа. Von den erhaltenen Mittelwerten ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаgehen zu den entsprechenden Werten der Logarithmen der relativen Intensität ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа, in übereinstimmung mit der Anwendung des GOST 9717.3. Nach den Werten ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаund ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаProben für den Vergleich bauen градуировочный Zeitplan in den Koordinaten (ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа).

Tabelle 2

     
Definierten Element Wellenlänge der analytischen Linie, Nm
Massenanteil von Verunreinigungen, %
Eisen 259,9

10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

  238,2

10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

Cadmium 228,8

10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

  326,1

10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

Silikon
253,2

10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

Cobalt
242,4

10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

  241,4

10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

Zinn
284,0

10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

  317,5

10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

Aluminium
236,7

10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

  237,2

10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

Mangan
280,1

10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

  260,6

10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

Chrom 284,9

10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

  267,8

10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

Zink
334,5

10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

Wismut 306,8

10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

  289,8

10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

Nickel 305,1

10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

  231,1

10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

Magnesium
277,6

10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

  278,3

10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа



Nach den Werten ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаKonzentrate für die zu analysierende Probe zu finden nach градуировочному Grafiken gemittelten Werte der Massenanteil ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаbestimmt Verunreinigungen in Konzentraten Versuches. Ähnlich der Werte ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаfür Konzentrate kontrollierenden Erfahrung finden gemittelten Wert der Massenanteil ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаbestimmt Verunreinigungen in Konzentraten kontrollierenden Erfahrung.

Massive Anteil ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа-TEN Verunreinigungen in die zu analysierende Probe in Prozent (ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа) berechnen nach der Formel

ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа, (1)


wo ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа — Masse der Probe графитового Pulver mit einem Massenanteil Natriumchlorid und 4%-igem (Kollektor), G;

ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа — Masse der Probe Probe Kupfer, G;

ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа — gemittelten Wert der Massenanteil von Verunreinigungen in Konzentraten analysierten Proben, %;

ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа — gemittelten Wert der Massenanteil von Verunreinigungen im Konzentrat kontrollierenden Erfahrung, %.

Der Wert ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаsollte nicht größer als die angegebene untere Grenze für die Methode ermittelter Werte Massenanteil der Beimischung. Bei Nichterfüllung dieser Voraussetzungen muss sorgfältig schrittweise die Räume, Arbeitsplätze, die Geräte, tauschen Reagenzien, Materialien, wiederholen Sie die Analyse.

Wenn die Erfahrung erfolgte mit dem Standard-Probe der Zusammensetzung der Kupfer -, dann der Mainstream, den Anteil der Verunreinigungen in Bezug auf die zu analysierende Probe in Prozent (ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа) berechnen nach der Formel

ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа, (2)


wo ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа — bestätigt den Wert der Massenanteil des Elements in der Standard-Probe, %.

Für die endgültige Analyseergebnis nehmen das arithmetische Mittel aus drei Definitionen, von denen jede zwei Dimensionen eingegangen.

5.2. Bei der Kontrolle der Vorspur der Ergebnisse der parallelen Definitionen der drei Werte ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа, die ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа, ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаabgeleitet aus zwei спектрограммам jeden aufgenommen für drei Chargen der die zu analysierende Probe, wählen den größten ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаund kleinsten ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаWert, den übergang von diesen zu den Werten ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаund ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаmit der App GOST 9717.3 finden und die entsprechenden Werte Massenanteil von Verunreinigungen in der Probe ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаund ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа.

Das Verhältnis der größten Ergebnisse von drei parallelen Definitionen ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаauf den kleinsten ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализаmit vertraulichen Wahrscheinlichkeit ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа=0,95 nicht überschreiten Werte soweit dies Divergenzen drei Ergebnisse paralleler Definitionen.

Für mehrere Werte Massenanteil eines Elements die zulässigen Abweichungen der Ergebnisse der drei parallelen Definitionen sind in der Tabelle gezeigt.3.

Tabelle 3

       
Definierten Element Massenanteil, % Absolute die zulässigen Abweichungen (das Verhältnis der größten zur kleinsten Zahl) Ergebnisse, %
    parallele Definitionen
Analysen
Aluminium
(Magnesium)

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,9 2,6
 

3,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,8 2,5
 

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,5 2,4
 

3,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,3 2,2
 

10,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,0 2,0
Wismut

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,7 1,8
 

3,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,6 1,8
 

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,5 1,7
 

3,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,0 1,4
 

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

1,5 1,0
Eisen

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

4,0 2,7
 

3,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,8 2,6
 

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,6 2,4
 

3,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,3 2,2
 

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,0 2,0
Cadmium

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,6 1,8
 

3,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,5 1,7
 

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,4 1,6
 

3,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,3 1,6
 

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,2 1,5
Cobalt

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,9 2,0
 

3,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,7 2,0
 

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,8 1,9
 

3,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,6 1,7
 

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,4 1,6
Silikon

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

4,0 2,7
 

3,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,8 2,6
 

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,6 2,4
 

3,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,3 2,2
 

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,0 2,0
Mangan

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,6 2,4
 

3,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,3 2,2
 

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,0 2,0
 

3,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,9 2,0
 

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,8 1,9
Zink

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,0 2,0
 

3,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,9 2,0
 

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,8 1,9
 

3,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,6 1,8
 

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,4 1,6
Nickel

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,6 2,4
 

3,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,0 2,0
 

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,0 1,4
 

3,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

1,9 1,3
 

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

1,8 1,2
Zinn

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,5 2,4
 

3,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,0 2,0
 

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,2 1,5
 

3,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,1 1,5
 

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,0 1,4
Chrom

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,1 2,1
 

3,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,1 2,1
 

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

3,0 2,0
 

3,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,9 2,0
 

1,0·10ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа

2,8 1,9

5.3. Beim Vergleich von zwei Analysen zur Verfügung, von denen jedes erhalten wird durch drei parallele Bestimmungen, das Verhältnis der größten zur kleinsten Zahl der Ergebnisse bei einem Konfidenzniveau ГОСТ 27981.2-88 Медь высокой чистоты. Метод химико-атомно-эмиссионного анализа=0,95 nicht überschreiten zulässige Werte Abweichungen, der oben in der Tabelle.3.

Die zulässigen Abweichungen für Zwischenwerte der Massenanteil eines Elements berechnet mit der Methode der linearen Interpolation.

5.4. Die Richtigkeit der Ergebnisse der Analyse zu Steuern, unter Verwendung einer Standard-Probe Zusammensetzung des Kupfers oder die bescheinigte Gemisch, in dem bescheinigt den Wert der Massenanteil der einzelnen definierten Elementen unterscheidet sich von dem Massenanteil des Elements in der zu analysierenden Probe nicht mehr als 2 mal. Das Ergebnis der Analyse für richtig halten, wenn eine Diskrepanz gefunden, Massenanteil des Elements und der entsprechenden zugelassenen Werte in der Standard-Probe überschreitet nicht die zulässigen Abweichungen der Ergebnisse der Analyse, wie nachstehend in der Tabelle.3.

Zulässig ist die Anwendung der Zusatzstoffe in übereinstimmung mit GOST 25086.