Durch die Nutzung dieser Website erklären Sie sich die Verwendung von Cookies. Mehr über unsere Cookie Politik.

GOST 27981.3-88

STAATLICHE NORM P 57376-2016 GOST 193-2015 GOST 27981.5-2015 GOST 27981.2-2015 GOST 27981.1-2015 GOST 13938.11-2014 GOST P 56240-2014 GOST 859-2014 GOST P 55685-2013 GOST P 54922-2012 STAATLICHE NORM P 54310-2011 GOST 31382-2009 GOST P 52998-2008 GOST 859-2001 GOST 6674.4-96 GOST 6674.3-96 GOST 6674.2-96 GOST 6674.1-96 GOST 4515-93 GOST 28515-97 GOST 17328-78 GOST 614-97 GOST 15527-70 GOST 13938.13-77 GOST 13938.13-93 GOST 1020-77 GOST 5017-2006 GOST 1652.11-77 GOST 15027.12-77 STAATLICHE NORM 15027.11-77 GOST 493-79 GOST 1953.9-79 GOST 23859.2-79 GOST 1953.5-79 GOST 1953.3-79 GOST 1953.12-79 GOST 1953.6-79 GOST 15027.18-86 GOST 27981.2-88 GOST 27981.5-88 GOST 15027.5-77 GOST 1652.12-77 GOST 15027.8-77 GOST 1652.7-77 GOST 15027.6-77 GOST 15027.7-77 GOST 1652.2-77 GOST 1652.4-77 GOST 15027.2-77 GOST 1652.8-77 GOST 1652.3-77 GOST 13938.6-78 GOST 13938.7-78 GOST 13938.1-78 GOST 13938.2-78 GOST 13938.4-78 GOST 13938.8-78 GOST 13938.10-78 GOST 13938.12-78 GOST 23859.8-79 GOST 1953.1-79 GOST 613-79 GOST 9716.2-79 GOST 23912-79 GOST 23859.1-79 GOST 23859.4-79 GOST 1953.2-79 GOST 20068.1-79 GOST 9717.3-82 GOST 9717.1-82 GOST 27981.4-88 GOST 28057-89 GOST 6674.5-96 GOST 23859.11-90 GOST 24978-91 GOST 15027.14-77 GOST 15027.10-77 GOST 15027.4-77 GOST 1652.6-77 GOST 1652.10-77 STAATLICHE NORM 15027.9-77 GOST 13938.5-78 GOST 13938.11-78 GOST 18175-78 GOST 13938.3-78 GOST 23859.6-79 GOST 1953.4-79 GOST 1953.8-79 GOST 1953.7-79 GOST 23859.9-79 GOST 1953.11-79 GOST 1953.15-79 GOST 1953.10-79 GOST 1953.16-79 GOST 23859.5-79 GOST 23859.3-79 GOST 9716.3-79 GOST 1953.14-79 GOST 15027.16-86 GOST 15027.17-86 GOST 27981.6-88 GOST 27981.1-88 GOST 15027.20-88 GOST 17711-93 GOST 1652.1-77 GOST 15027.13-77 GOST 1652.5-77 GOST 15027.1-77 GOST 1652.13-77 GOST 1652.9-77 GOST 15027.3-77 GOST 13938.9-78 GOST 23859.10-79 GOST 193-79 GOST 20068.2-79 GOST 1953.13-79 GOST 23859.7-79 GOST 9716.1-79 GOST 20068.3-79 GOST 24048-80 GOST 9717.2-82 GOST 15027.15-83 GOST 15027.19-86 GOST 27981.3-88 GOST 20068.4-88 GOST 27981.0-88 GOST 13938.15-88 GOST 6674.0-96

GOST 27981.3−88 Kupfer hoher Reinheit. Methode эмиссионно-Spektralanalyse mit Photovoltaik-Registrierung des Spektrums


GOST 27981.3−88

Gruppe В59


DER STAATLICHE STANDARD DER UNION DER SSR


KUPFER HOHER REINHEIT

Methode эмиссионно-Spektralanalyse mit Photovoltaik-Registrierung des Spektrums

Copper of high purity. Method of emission-spectral analysis
with photoelectric registration of spectrum


ОКСТУ 1709

Geltung ab 01.01.1990
bis 01.01.2000*
_______________________________
* Beschränkung der Laufzeit aufgehoben
über N 7−95 Zwischenstaatlichen Rats
für Normung, Metrologie und Zertifizierung
(IUS N 11, 1995). — Anmerkung des Datenbankherstellers.


INFORMATION

1. ENTWICKELT UND EINGEFÜHRT durch das Ministerium für Metallurgie der UdSSR

KÜNSTLER:

B. M. Hörner, E. N. Гадзалов, I. I. Schwan, B. A. Korotin, G. V. Osipov, V. V. Подшивалов, V. I. Петровичева

2. GENEHMIGT UND IN Kraft gesetzt durch die Verordnung des Staatlichen Komitees der UdSSR nach den Standards von 22.12.88 N 4443.

3. Termin für die erste Prüfung — 1994

Häufigkeit der überprüfung — 5 Jahre

4. EINGEFÜHRT ZUM ERSTEN MAL

5. REFERENZIELLE NORMATIV-TECHNISCHE DOKUMENTE

   
Bezeichnung NTD, auf welche verwiesen wurde
Die Nummer der Partition, Anwendungen
GOST 123−78
Anhang 1
GOST 334−73
Kap.2
GOST 849−70
Anhang 1
GOST 859−78
Anhang 1
GOST 860−75
Anhang 1
GOST 1277−75
Anhang 1
GOST 1467−75
Anhang 1
GOST 1770−74
Anhang 1
GOST 3778−72
Anhang 1
GOST 4236−77
Anhang 1
GOST 3640−79
Anhang 1
GOST 8655−75
Anhang 1
GOST 4328−77
Anhang 1
GOST 4461−77
Kap.2, Anhang 1
GOST 5072−79
Kap.2
GOST 5556−81
Kap.2
GOST 5817−77
Anhang 1
GOST 5905−77
Anhang 1
GOST 6008−82
Anhang I
GOST 6709−72
Kap.2
GOST 6836−77
Anhang 1
GOST 9147−80
Kap.2, Anhang 1
GOST 10928−75
Anhang 1
GOST 11125−84
Kap.2, Anhang 1
GOST 18.300−87
Kap.2, Anhang 1
GOST 19908−80
Kap.2, Anhang 1
GOST 20292−74
Anhang 1
GOST 20298−74
Kap.2, Anhang 1
GOST 22180−76
Anhang 1
GOST 24104−88
Kap.2, Anhang 1
GOST 25336−82
Kap.2, Anhang 1
GOST 27981.0−88
1.1



Diese Norm legt эмиссионно-spektrale Methode zur Bestimmung von Verunreinigungen in hochreinem Kupfer im Bereich der Massen-Anteil ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра·10ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра:

   
Wismut
0,10−5
Eisen
2−25
Cadmium
0,30−5
Kobalt
0,10−10
Silizium
1−20
Mangan
0,10−10
Arsen
0,40−10
Nickel
0,60−20
zinn
0,20−10
Blei
0,10−20
Selena
0,80−20
Silber
0,30−25
Antimon
0,70−20
Tellur
0,50−10
Phosphor
2−25
Chrom
0,40−20
Zink 0,60−20


Die Methode basiert auf der Messung der Intensitäten der Spektrallinien definierten Elemente auf дифракционном Spektrometer des Typs IFS-6, MFS-8. Emissionsspektrum angeregt Bogen des Gleichstroms zwischen der Dummy-Graphit-Elektrode und eine Tablette Kupfer-OXID, die durch auflösen der Probe in Salpetersäure und der thermischen Zersetzung der Salze.

1. ALLGEMEINE ANFORDERUNGEN

1.1. Allgemeine Anforderungen an die Methode der Analyse und die Forderungen der Sicherheit bei der Ausführung der Analysen nach GOST 27981.0.

1.2. Massive Anteil an Verunreinigungen zu bestimmen, die parallel in zwei Dosierung.

2. GERÄTE, MATERIALIEN UND REAGENZIEN


Diffraktives-Spektrometer des Typs IFS-6, MFS-8.

Generator УГЭ-4 oder jede andere Gleichstromquelle mit einer Einrichtung zur Hochfrequenz-Zündung des Lichtbogens, und dimmerfunktion mit einem Amperemeter Messen, die Spannung In 200−400 und Stromstärke bis 12 A. Elektroofen Widerstand-Labor-Kammer jeder Art, die es ermöglicht, die Temperatur der Erwärmung bis 900 °C.

Stromkasten lüften Labor.

SCHLEIFMASCHINE Graphit-und Metall-Elektroden, zum Beispiel das Modell CP-35 oder von einem anderen Typ.

Die Form aus legiertem Stahl (Z. B. ХВГ) mit einem Stempel mit einem Durchmesser von 4−6 mm, einer Höhe von 50−80 mm.

Waage Labor-elektronische 4. Klasse der Genauigkeit des Typs ВЛЭ-1 kg oder Torsion W-1000 Genauigkeitsklasse 4.

Elektroden-Untersetzer Graphit, Rutenhalter Kupfer, wassergekühlte, die Kühlkörper für die Verhinderung der vollständigen Schmelze Zaunkönig und einer Stromstärke von 10 A (Abb.1).

Verdammt.1. Электродержатели

Rutenhalter

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра


1 — Installation der Eingang für das Kühlwasser; 2 — Installation für den Austritt des Kühlwassers.

Verdammt.1



Elektroden-Graphit-Kohlen aus den spektralen Marke OSCH oder C-3 in Form von Stäben mit штифтообразной schärfen mit einem Durchmesser von 3 mm (Abb.2).

Verdammt.2. Elektroden-Graphit-Kohlen aus den spektralen Marke OSCH oder C-3 in Form von Stäben mit штифтообразной schärfen mit einem Durchmesser von 3 mm

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра


1 — Graphit-Elektrode-Ständer; 2 — Tablette Probe oder Standard-Probe; 3 — Graphit-Elektrode; 4 — Tropfen Schmelze

und — bis Belichtungsmodus; B — bei der anodische Polarität Tabletten; in — bei der Polarität der Kathoden-Tabletten.

Verdammt.2



Analysenwaagen Labor jede Art der 2. Klasse der Genauigkeit der Wägung mit einer Genauigkeit von GOST 24104*.
_______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation wirkt GOST 24104−2001, hier und weiter im Text. — Anmerkung des Datenbankherstellers

Technische Personenwaage jeglicher Art mit einer Fehlerquote Gewichtung gemäß dem beigefügtem Pass.

Waage jede Art von Torsion mit einer Fehlerquote Gewichtung gemäß dem beigefügtem Pass.

Stupka агатовая mit Stößel, oder die Schüssel Glasierte Feinsteinzeug mit kupfernem Stößel.

Pinzette Medical.

Magnet.

Die Stoppuhr nach GOST 5072 Uhr oder Signal.

Härteprüfgerät tsch-2 oder die Presse, die Bereitstellung von Bemühungen 1−1,5 cu.

Installation für die Destillation von Salpetersäure eines beliebigen Typs.

Installation für doppelte Destillation von Wasser oder anderen Arten von Sonnen-Typ.

Becher zum Wiegen nach GOST 25336.

Banken Kunststoff mit Deckeln.

Schalen aus Quarzglas nach GOST 19908* oder Schüsseln Porzellan nach GOST 9147.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation wirkt GOST 19908−90, hier und weiter im Text. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Vata Medical absorbent nach GOST 5556.

Papier groß-Koordinaten nach GOST Marke 334 LN.

Destilliertes Wasser nach GOST 6709, oder бидистиллированная.

Das Wasser entionisiertes, die Streichung des destillierten Wassers durch eine ionenaustauschsäule mit катионитом, Z. B. der Marke KU-2−8, oder Wasser бидистиллированная.

Salpetersäure Reinheitsgrad nach GOST 11125, oder Salpetersäure nach GOST 4461 (перегнанная zu installieren) und verdünnte 1:1, 2:1.

Ethylalkohol rektifiziert nach GOST technische 18300.

Катионит Marke KU-2−8 nach GOST 20298.

Standard-Probe Zusammensetzung des Kupfers.

3. VORBEREITUNG FÜR DIE ANALYSE

3.1. Zubereitung Standardproben zur Kalibrierung finden Sie in Anhang 1.

3.2. Vor der Analyse reiben Alkohol Mörser, Form, Schale und Pinzette. Äthylalkohol auf eine Definition von 10 G. Nach der Verbrennung der einzelnen versuche reiben von Alkohol und Rutenhalter.

Vom Versuch nehmen zwei Probe der Masse nach 5 bis 10 G Probe wird in выпарительные Schüssel, Gießen Sie die Salpetersäure, verdünnt 1:1, die Berechnung von 8−10 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраSäure auf 1 G der Probe und durch erwärmen gelöst.

Die resultierenden Lösungen trockne eingedampft, Schüssel mit trockenen Salzen wurde in einem Ofen calciniert bei einer Temperatur von (600±50) °C innerhalb von 30 min ab dem Zeitpunkt der Beendigung der Absonderung von Stickoxiden. Das erhaltene Kupferoxid in einem Mörser verrieben. Von OXID-Pulver genommen auf drei naweski der Masse 0,500 G aus jeder ursprünglichen Probe und in Tabletten gepresst.

Erlaubt die Veränderung der Masse Pillen von 0,300 bis 1,000 G mit dem Ziel der Erreichung der gewünschten Untergrenzen definierten Inhalten der Elemente.

Die Proben in Form von OXID-Pulvern auch in Tabletten gepresst. Die Masse der Tabletten Proben für die Kalibrierung und die zu analysierende Probe identisch sein.

Vorbereitet auf die Analyse der Tabletten bewahren in бюксах, Kunststoff-oder Polyethylen-Banken mit завинчивающимися Deckeln.

4. DIE DURCHFÜHRUNG DER ANALYSE

4.1. Die Tabletten der versuche wird auf die Graphit-Elektroden-Ständer. Stirnfläche Elektroden zur Entfernung von oberflächlichen Verunreinigungen kalziniert im Bogen DC-Strom für 20 mit einer Stromstärke von 6−10 Und, unter Verwendung einer Elektrode-Ständer als Anode Bogen (siehe Teufel.2). Für die oberen Elektroden verwendet Graphitstäbe Marke OSCH oder Pre-getemperte Kerne Marke C-3.

4.2. Die Analyse erfolgt in zwei Schritten: beim anodischen und kathodischen Polarität Tabletten.

4.2.1. Auf der ersten Stufe bestimmen die massiven Anteile der leichtflüchtigen Verunreinigungen: Cadmium, Selen, Arsen, Tellur, Blei, Wismut, Phosphor, Antimon, Zink, zinn. Vorher verbringen rösten Tabletten mit Ständer Graphit mit einer auf Ihr Tablet als Anode. Dazu zuerst zünden die Gleichstrom-Lichtbogen zwischen der oberen Elektrode und der Ständer. Erst nach der Verschmelzung Teil der Tabletten aufsteigende Stelle des Bogens geht auf die entstandene Schmelze (Zaunkönig) Oxide. Dieser übergang kann beschleunigt werden, dass nach ausschalten der Zündung und beinhalten Strom, solange der Bogen wird nicht auf die Schmelze. Brenndauer mit dem übergang des Lichtbogens auf der Schmelze — 5 Sek.

Nach Abschluss der Röstung entwickeln analytische Dauer der Belichtung mit 40 im absoluten Modus.

Ursprünglich installierte межэлектродный Zeitraum in regelmäßigen Abständen zu korrigieren, während der gesamten Ausstellungsfläche vergrößerte Bild des Bogens auf dem speziellen короткофокусной Projektionssystem, indem Rutenhalter.

Die Registrierung der Spektren wird bei der Breite der Eingabe-Schlitz 0,035 mm, Beleuchtung der Eingabe-Schlitz raster конденсором, bit-Intervall 30 mm, Stromstärke des Bogens 10 Und der Belichtungszeit von 40 S.

4.2.2. In der zweiten Phase bestimmen die Masse des Anteils труднолетучих Verunreinigungen: Eisen, Mangan, Nickel, Silber, Kobalt, Silizium, Chrom.

Gebildet in der ersten Phase der Analyse Zaunkönig platziert auf свежезаточенную Ständer Graphit und verbringt seine Kalzinierung innerhalb von 5 Sekunden, mit Ständer Graphit als Kathode.

Die Registrierung der Spektren erfolgt bei bit-Intervall 3 mm, Stromstärke 5 Bogen A, der Zeit der Exposition mit 20−30 in einem absoluten oder relativen Modi, wobei als Signal Vergleichs-Signal, gemessen im Kanal Spektral unzersetzte Licht.

Erlaubt die Durchführung der zweiten Phase, ohne dass der Zaunkönig aus dem Stand nach Abschluss der ersten Phase, durch ändern der Polarität der Elektrode mit der Probe und die Stromstärke des Lichtbogens.

4.3. Für jede Tablette km / registrieren Ausgabe des Messgeräts (ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра), die proportional zur Intensität der Spektrallinie eines Elements bei einer Wellenlänge, die in der Tabelle dargestellt.1.

Tabelle 1

   
Definierten Element
Wellenlänge, Nm
Wismut
306,772
Eisen
302,107
Cadmium
214,441
Cobalt
345,351
Silikon
251,611
Mangan
279,480
Arsen
234,984
Nickel
341,477
Zinn
286,332
Blei
283,307
Selen
203,980
Silber
338,289
Antimon
231,147
Tellur
238,325
Phosphor
253,561
Chrom
357,868
Zink
334,502


Anmerkungen:

1. Erlaubt die Verwendung von anderen Bedingungen für die Durchführung der Analyse und anderen analytischen Linien, um sicherzustellen, dass der metrologischen Eigenschaften in übereinstimmung mit den Anforderungen dieser Norm.

2. Erlaubt die Bestimmung von Magnesium in der analysierten Probe.

4.4. Aufbau градуировочных Charts

Für den Aufbau градуировочных Grafiken und Errichtung градуировочных Abhängigkeiten verwenden Standardproben zur Kalibrierung, zubereitet gemäß Anhang 1, Standard-oder Probe Zusammensetzung des Kupfers jeder Kategorie. Die Anzahl der Proben nicht weniger als vier, die massiven Anteil ermittelter Elemente in den Standard-Proben der Zusammensetzung sollte sich auf die Grenzen des Messbereichs.

Nach PP.4.1 und 4.2 erhalten Spektren von drei Tabletten jeder Probe und Kupfer-OXID — (für Buchhaltung hintergrund), gekocht nach Anlage 1, berechnen Sie die Durchschnittliche Intensität der Spektrallinie des Elements.

Bei der Arbeit an der Installation der ISF-6 градуировочные Grafiken bauen in den Koordinaten ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра,

wo ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — die Intensität der Spektrallinie, die Aussagen der digitalen милливольтметра;

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — Massenanteil eines Elementes in MIT, %.

Mit Hilfe der Zellen einstellen ISF-6 kann отградуирована entsprechend der Betriebsanleitung mit dem Empfang auf digitalen милливольтметре Messergebnisse in Prozent des Inhalts.

Bei der Arbeit an der Installation von MFS-8-Werte Massenanteil des Elements in den Standard-Proben der Zusammensetzung und der zugehörigen mittleren Intensität der Spektrallinien injiziert in den Computer.

Handbediengerät formt die Gleichung градуировочной abhängig

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, (1)


wo ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — Massenanteil eines Elements, %;

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраdie Regressionskoeffizienten, die Methode der kleinsten Quadrate für jedes Element;

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — die Intensität der Spektrallinie.

Nach der Gründung der градуировочной nach den massiven Anteil eines Elements in jeder der drei Tabletten und schätzen die Möglichkeit der Mittelung nach Anspruch 5.2. Bei Nichterfüllung der Bedingungen von Absatz 5.2 Messung wiederholen.

Korrektur Charts verbringen monatlich nach Anlage 2.

5. DIE VERARBEITUNG DER ERGEBNISSE

5.1. Berechnung der Massen-Anteil der definierten Elemente (in Prozent) wird mit der Hilfe von градуировочного Grafik bei der manuellen Handhabung oder durch die Gleichung dieses Zeitplans bei der Verarbeitung auf dem Großrechner.

5.2. Die Ergebnisse von drei Tabletten, die bei der Analyse einer Probe Kupfer, berechnen, wenn Extreme Messwerte (ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраund ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра) unterscheiden sich um den Wert, der nicht größer als

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, (2)


wo ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — der Mittelwert der Ergebnisse der Messungen, %;

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — Koeffizienten in übereinstimmung mit der Tabelle.2.

Erlaubt das beseitigen von maximal Verschieden vom Mittelwert Messergebnis verwenden und den Mittelwert der Messungen von zwei Tabletten vorausgesetzt

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра. (3)


Erlaubt die Benutzung des Graphen im logarithmischen Maßstab in den Koordinaten ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра.

Das arithmetische Mittel der Ergebnisse der drei (zwei) Dimensionen nehmen die parallele Bestimmung für das Ergebnis.

5.3. Für die Auswertung nehmen das arithmetische Mittel der Ergebnisse von zwei parallelen Bestimmungen, wenn die Diskrepanz zwischen Ihnen bei ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра=0,95 nicht überschreitet zulässigen absoluten Abweichungen ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, berechnet nach der Formel

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, (4)


wo ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — der Mittelwert der Ergebnisse von zwei parallelen Bestimmungen, %;

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — Koeffizienten in übereinstimmung mit der Tabelle.2.

Wenn die Abweichung überschreitet ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, die Analyse wiederholt aus den neuen Chargen der gleichen Probe. Im Falle einer erneuten Divergenz der parallel Definitionen zu analysieren und einen neuen Versuch.

5.4. Die Reproduzierbarkeit der Ergebnisse der primären und nochmaligen Tests zufriedenstellend betrachten, wenn die Divergenz der Ergebnisse der beiden Tests nicht größer als bei ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра=0,95 absoluten zulässigen Abweichungen ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, berechnet nach der Formel

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, (5)


wo ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — das arithmetische Mittel der Ergebnisse von zwei Analysen, %;

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — Koeffizienten in übereinstimmung mit der Tabelle.2.

Tabelle 2

             
Definiert
Element
Quoten
 

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра

Wismut
0,0019 -0,31 0,0021 -0,39 0,0015 -0,46
Eisen
0,0057 -0,45 0,0052 -0,43 0,0023 -0,57
Cadmium
0,0010 -0,50 0,0027 -0,39 0,0013 -0,52
Cobalt
0,0013 -0,40 0,0011 -0,44 0,0015 -0,46
Silikon
0,00057 -0,73 0,00031 -0,74 0,00047 -0,74
Arsen
0,00029 -0,64 0,0023 -0,45 0,0009 -0,57
Nickel
0,00084 -0,60 0,0018 -0,44 0,0004 -0,68
Zinn
0,00022 -0,62 0,00035 -0,65 0,0023 -0,45
Blei
0,0014 -0,42 0,0024 -0,4 0,0042 -0,37
Selen
0,0050 -0,43 0,0034 -0,35 0,0006 — 0,66
Silber
0,0054 -0,33 0,001 -0,56 0,0042 -0,41
Antimon
0,00052 -0,62 0,0045 -0,36 0,00088 -0,61
Tellur
0,00052 -0,62 0,0013 -0,53 0,0006 -0,63
Phosphor
0,00015 -0,90 0,0012 -0,52 0,00014 -0,9
Chrom
0,00067 -0,57 0,00013 -0,86 0,00093 -0,57
Zink
0,00052 -0,62 0,00091 -0,53 0,0011 -0,58
Mangan
0,00036 -0,58 0,00029 -0,58 0,00045 -0,58

5.5. Kontrolle der Genauigkeit der Ergebnisse der Analyse erfolgt nach den MIT Kupfer jede Kategorie mindestens einmal im Monat durch die Wiedergabe der Massenanteil eines Elementes in MIT aus zwei parallelen Definitionen.

Das arithmetische Mittel der Ergebnisse der parallelen Definitionen MIT übernehmen воспроизведенное Wert der Massenanteil eines Elements, wenn die Abweichung nicht überschreitet ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, berechnet nach der Formel (4).

Die Ergebnisse der Analyse des Kupfers glauben befriedigen der erforderlichen Genauigkeit, wenn воспроизведенное Wert der Massenanteil eines Elements unterscheidet sich von den zugelassenen nicht mehr als 0,71ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраberechnet wird nach der Formel (5).

Wenn diese Bedingung nicht erfüllt ist, wird die Analyse gestoppt bis zur Klärung und Beseitigung der Ursachen die beobachtete Abweichung.

Gestattet die überprüfung der Richtigkeit der anderen Methoden, die Toleranz, nicht größer als die Fehlergrenze kontrollierten Techniken.

Die Ergebnisse der Analyse des Kupfer-glauben befriedigen der erforderlichen Genauigkeit, wenn die Bedingung

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра,


wo ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — die Ergebnisse der Analyse kontrollierter und Kontroll-Techniken;

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраund ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — die zulässigen Abweichungen der beiden Assays, kontrollierten und geregelten Kontroll-Techniken.

ANHANG 1 (empfohlene). ZUBEREITUNG STANDARDPROBEN ZUR KALIBRIERUNG

ANHANG 1
Empfohlene


Standard-Muster sind ein Pulver Kupferoxid, erhalten durch auflösen reinen Grundlagen in Salpetersäure, die Einführung dosiert Additive Lösungen von Verunreinigungen, anschließender Verdampfung und thermische Zersetzung von Mischungen von Nitraten.

1. GERÄTE, REAGENZIEN, LÖSUNGEN


Analysenwaagen jede Art der 2. Klasse der Genauigkeit der Wägung mit einer Genauigkeit von GOST 24104.

Elektroofen die Kammermusik jeder Art mit der Temperatur der erwrmung bis 800 °C.

Gläser, konische Kolben nach GOST 25336.

Messkolben 2−250−2, 2−100−2 nach GOST 1770.

Schalen, Mörser Porzellan nach GOST 9147, oder Stupka агатовая, oder Jasper.

Banken-Polyethylen, PTFE, mit завинчивающимися Deckeln oder бюксы nach GOST 25336.

Schüssel Quarz nach GOST 19908.

Bürette nach GOST 20292*.
________________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation gelten GOST 29169−91, GOST 29227−91-GOST 29229−91, GOST 29251−91-GOST 29253−91, hier und weiter im Text. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Pipetten 1−2-1,2, 6 (7)-2−5, 10, 25 nach GOST 20292.

Eisen карбонильное besonders sauber.

Wismut nach GOST 10928*.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation gilt GOST 10928−90. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Mark Marke M00k nach GOST 859*.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation gilt GOST 859−2001. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Zinn nach GOST 860.

Cadmium Marke Кд0 nach GOST 1467*.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation wirkt GOST 1467−93, hier und weiter im Text. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Nickel Marke H 1U nach GOST 849*.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation gilt GOST 849−97 (seit 01.07.2009 gilt GOST 849−2008). — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Silber nach GOST 6836*.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation gilt GOST 6836−2002. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Cobalt Marke K 0 nach GOST 123*.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation gilt GOST 123−98 (seit 01.07.2009 gilt GOST 123−2008). — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Natrium Natriumsilikat meta 9-wässrige oder тетраэтоксисилан.

Chrom der Marke Х99Б nach GOST 5905*.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation gilt GOST 5905−2004. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Mangan Metall nach GOST 6008*.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation gilt GOST 6008−90. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Blei азотнокислый (N) nach GOST 4236, перекристаллизованный, oder Blei nach GOST 3778*.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation gilt GOST 3778−98. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Phosphor nach GOST 8655.

Tellur auf der normativ-technischen Dokumentation.

Selen nach der normativ-technischen Dokumentation.

Zink nach GOST 3640*.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation gilt GOST 3640−94. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Salpetersäure nach GOST 4461 (перегнанная im Quarz-Apparat) oder Salpetersäure Reinheitsgrad nach GOST 11125, und verdünnt 1:1, 2:1.

Ethylalkohol rektifiziert nach GOST technische 18300.

Silbernitrat nach GOST 1277, eine Lösung von 20 G/DMГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра.

Säure Weinsäure nach GOST 5817.

Oxalsäure nach GOST 22180.

Natriumhydroxid nach GOST 4328, eine Lösung von 100 G/DMГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра.

Arsen metallisch.

Wasser entionisiertes, die Streichung des destillierten Wassers durch eine ionenaustauschsäule mit катионитом, oder Wasser бидистиллированная durch Destillation im Quarz-Apparat.

Antimon Marke Су00 nach GOST 1089.

2. ZUBEREITUNG VON LÖSUNGEN VON VERUNREINIGUNGEN

2.1. Jede wurde eine Probe der Masse 0,6250 G Nickel, Kobalt, Eisen, Zink, Blei, Wismut, Cadmium, Arsen, Phosphor, Silber, Selen, Tellur, gelöst in 25 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраSalpetersäure in einzelnen Gläsern mit einem Fassungsvermögen von 250 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, übersetzen in Lösungen Messkolben mit einem Fassungsvermögen von 250 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраund bringen bis zu einer Markierung Salpetersäure, verdünnt 1:1.

1 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраjede Lösung enthält 2,5 mg jede der oben genannten Verunreinigungen.

2.2. Die Anhängung Chrom Masse 0,6250 G aufgelöst in 20−30 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраSalzsäure in einem kochenden Wasserbad. Dann wird die Lösung wird zur trockene Salz. Zu den trockenen Salzen zugesetzt 5−10 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраSalpetersäure und Lösungen wird zur feuchten Salze. Die Verarbeitung der Salze der Salpetersäure noch dreimal wiederholt, jedes mal выпаривая bis feuchten Salze. Dann Gießen Sie 100 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраSalpetersäure, verdünnt 1:1, platziert die resultierende Lösung wurde in einen Messkolben überführt und mit 250 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраund bringen bis zu einer Markierung Salpetersäure, verdünnt 1:1.

Von der erhaltenen Lösung ausgesuchte Probe von 10 bis 20 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраund befinden sich in einem Glas mit einem Fassungsvermögen von 50 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраzur überprüfung auf das Vorhandensein von хлориона mit Hilfe von Silbernitrat-Lösung. Wenn in der Lösung gefunden Anwesenheit хлориона, die Operation wiederholen.

1 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраLösung enthält 2,5 mg Chrom.

2.3. Eine abgewogene zinn Masse 0,6250 G wurden in ein Becherglas mit 250 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, fügen Sie 5 G Oxalsäure, und dann 20 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраSalpetersäure, verdünnt 2:1, und halten ohne Erwärmung der Probe bis zur Auflösung. Überführt die Lösung in einen Messkolben überführt und mit 250 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраund bringen bis zu einer Markierung Salpetersäure, verdünnt 2:1.

1 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраLösung enthält 2,5 mg zinn.

2.4. Eine abgewogene Masse von Antimon 0,6250 G wurden in ein Becherglas mit 250 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраwurden 4 G Weinsäure und anschließend aufgelöst in reichlich heißer Salpetersäure beim Kochen. Die Lösung wurde in einen Messkolben überführt und mit 250 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраund bringen bis zu einer Markierung Salpetersäure, verdünnt 1:1.

1 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраLösung enthält 2,5 mg Antimon.

2.5. Die Anhängung кремнекислого Natrium-Masse 1,0117 G wird in einen Messkolben überführt und mit 100 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, aufgelöst in 5−7 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраWasser bis zur Markierung aufgefüllt mit Salpetersäure, verdünnt 1:2, oder tetraethoxysilan wurde eine Probe der Masse 0,7418 G wird in einen Messkolben überführt und mit 100 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, aufgelöst in Ethanol, bis zur Markierung aufgefüllt mit Ethanol gerührt.

1 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраLösung enthält 1 mg Silizium.

2.6. Wurde eine Probe Arsen, vorher gereinigten von Oxidschicht, Masse 0,6250 G wurden in ein Becherglas mit 250 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, Gießen 125−150 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраsiedenden Salpetersäure unter erwärmen gelöst. Die Lösung abgekühlt, übertragen in einen Messkolben überführt und mit 250 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, bis zur Markierung aufgefüllt mit Salpetersäure, verdünnt 1:1, und gerührt.

1 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраLösung enthält 2,5 mg Arsen.

2.7. Die Anhängung von Blei Masse 0,9988 G wird in einen Messkolben überführt und mit 250 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, aufgelöst in 10−15 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраWasser bis zur Markierung aufgefüllt mit Salpetersäure, verdünnt 1:1, gemischt.

1 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраLösung enthält 2,5 mg Blei.

3. ZUBEREITUNG STANDARDPROBEN

3.1. Zubereitung der Lösungen 1−4

Lösung 1: in einen Messkolben überführt und mit 250-ccm —ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраPipetten gelegt auf 10 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраSalpetersäure Lösungen von zinn, Kobalt, Mangan, Bismut, Cadmium, Arsen, Tellur, Chrom, bis zur Markierung aufgefüllt mit Salpetersäure, verdünnt 1:1, gemischt.

1 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраLösung 1 enthält 0,1 mg zinn, Kobalt, Mangan, Bismut, Cadmium Arsen, Tellur, Chrom.

Lösung 2: in einen Messkolben überführt und mit 250-ccm —ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраPipetten gelegt auf 10 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраSalpetersäure Lösungen von Blei, Nickel, Antimon, Zink, Selen, bis zu einer Markierung aufgefüllt mit Salpetersäure, verdünnt 1:1, gemischt.

1 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраLösung 2 enthält 0,1 mg Blei, Nickel, Antimon, Zink, Selen.

Lösung 3: in einen Messkolben überführt und mit 100 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраplatziert Pipetten 20 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраSalpetersäure Lösungen Phosphor, Eisen und Silber, bis zu einer Markierung aufgefüllt mit Salpetersäure, verdünnt 1:1, gemischt.

1 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраLösung 3 enthält 0,5 mg Phosphor, Eisen und Silber.

Lösung 4: 10 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраLösung кремнекислого Natrium wird in einen Messkolben überführt und mit 100 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, bis zur Markierung aufgefüllt mit Salpetersäure, verdünnt 1:2, gerührt oder 10 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраalkoholischen Lösung von tetraethoxysilan wird in einen Messkolben überführt und mit 100 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, bis zur Markierung aufgefüllt mit Alkohol, vermischen.

1 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраLösung 4 enthält 0,1 mg Silizium.

3.2. Zubereitung von Kupfer

In fünf Gläser mit einem Fassungsvermögen von 2000 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраunterbringen 200 G Kupfer, Gießen Sie die Salpetersäure, verdünnt 1:1, die Berechnung von 7−8 cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраSäure auf 1 G Kupfer, durch erwärmen gelöst.

3.3. Die berechneten Volumina der Lösungen 1−4 in übereinstimmung mit Tabelle.3 injiziert in vier Tassen mit Lösungen von Kupfer.

Tabelle 3

     
Glas Lösung

Das Volumen der Lösung cmГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра

1
1 1
2
1 2
3
1 4
4
1 10
1
2 2
2
2 10
3
2 20
4
2 40
1
3 2
2
3 4
3
3 8
4
3 10
1
4 2
2
4 10
3
4 20
4
4 40



Die resultierenden Lösungen verdampft, in Quarz-Schalen bis hin zu trockenen Salzen, Salz kalziniert in der Ofenkammer bei einer Temperatur von 600−650 °C bis zur vollständigen Zersetzung von Nitraten und der Abbau von Stickoxiden.

Mischung von Oxiden in einem Mörser zerreiben oder in irgendeiner Weise zerkleinert werden, ohne die Kontamination des Materials MIT den definierten Elementen.

Massen-Anteile der Elemente in CO — in übereinstimmung mit der Tabelle.4.

Tabelle 4

         
Bezeichnung MIT Massenanteil, % Kupfer
  Kobalt, Mangan,
zinn, Wismut, Arsen, Chrom, Tellur, Cadmium
Selen, Nickel, Blei, Antimon, Zink Phosphor, Eisen, Silber Silizium
CO-1
0,00005 0,0001 0,0005 0,0001
CO-2
0,0001 0,0005 0,0010 0,0005
MIT-3
0,0002 0,0010 0,0020 0,0010
CO-4
0,0005 0,0020 0,0025 0,0020



MIT OXID und Kupfer ohne Verunreinigungen speichern Sie in Glas-oder Polyethylen-Banken mit завинчивающимися Deckeln. Die Art der Aufbewahrung muss ausschließen, die Möglichkeit der Verschmutzung und der Befeuchtung MIT. Die Laufzeit MIT unter Beachtung der Bedingungen der Lagerung 5 Jahre.

Erlaubt die änderung der Masse der GEWICHTE des Kupfers und der Verunreinigungen in Abhängigkeit vom Bedarf in den Standard-Proben und Massenanteil von Verunreinigungen in Abhängigkeit von der Zusammensetzung der zu analysierenden Proben mit der entsprechenden Umrechnung.

3.4. Die Werte der zugelassenen Elemente MIT Kupfer wird durch das Verfahren des Kochens.

Der Messfehler durch die Festlegung der zugelassenen Merkmale nicht mehr als 5% bei einem Konfidenzniveau ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра=0,95.

Anlage 2 (empfohlene). KORREKTUR ГРАДУИРОВОЧНЫХ CHARTS

ANHANG 2
Empfohlene

1. Korrektur der Grafik bei der Installation der MFS-8

Für die Korrektur der Grafik Messen die Intensität der Spektrallinie eines Elements zur Kalibrierung MIT oder in den beiden Kontroll-Proben mit maximaler und minimaler Masse Anteilen Element.

Verabreicht werden in der Host-Computer gemessenen Intensität.

Computer berechnet die Korrektur-Koeffizienten nach den Formeln

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра; (7)

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, (8)

wo ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — der Intensität der Spektrallinie des Elements in zwei MIT, gemessen bei градуировке;

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — der Intensität der Spektrallinie des Elementes, gemessen bei der Korrektur;

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра, ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра — Koeffizienten nach der Formel (1).

Wenn die Ungleichungen für die Koeffizienten ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраund ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектраnicht erfüllt, dann erzeugen die Konfiguration der Installation.

Gleichung градуировочной Abhängigkeit unter Berücksichtigung der Korrektur-Koeffizienten hat die Form

ГОСТ 27981.3-88 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра. (9)

2. Korrektur der Grafik bei der Installation der ISF-6

Korrektur Grafik produzieren entsprechend der Betriebsanleitung.