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GOST 26239.0-84

GOST R ISO 15353-2014 STAAT GOST P 55080-2012 GOST R ISO 16962-2012 GOST R ISO 10153-2011 GOST R ISO 10280-2010 STAATLICHE NORM P ISO 4940-2010 STAATLICHE NORM P ISO 4943-2010 GOST R ISO 14284-2009 GOST R ISO 9686-2009 GOST R ISO 13899-2-2009 GOST 18895-97 GOST 12361-2002 GOST 12359-99 GOST 12358-2002 GOST 12351-2003 GOST 12345-2001 GOST 12344-88 GOST 12350-78 GOST 12354-81 GOST 12346-78 GOST 12353-78 GOST 12348-78 GOST 12363-79 GOST 12360-82 GOST 17051-82 GOST 12349-83 GOST 12357-84 GOST 12365-84 GOST 12364-84 STAATLICHE NORM P 51576-2000 GOST 29117-91 GOST 12347-77 GOST 12355-78 GOST 12362-79 GOST 12352-81 STAATLICHE NORM R 50424-92 STAATLICHE NORM P 51056-97 GOST P 51927-2002 GOST P 51928-2002 GOST 12356-81 GOST R ISO 13898-1-2006 GOST R ISO 13898-3-2007 GOST R ISO 13898-4-2007 GOST R ISO 13898-2-2006 STAATLICHE NORM P 52521-2006 GOST P 52519-2006 GOST P 52520-2006 GOST P 52518-2006 GOST 1429.14-2004 GOST 24903-81 GOST 22662-77 GOST 6012-2011 GOST 25283-93 GOST 18318-94 GOST 29006-91 GOST 16412.4-91 GOST 16412.7-91 GOST 25280-90 GOST 2171-90 GOST 23401-90 GOST 30642-99 GOST 25698-98 GOST 30550-98 GOST 18898-89 GOST 26849-86 GOST 26876-86 GOST 26239.5-84 GOST 26239.7-84 GOST 26239.3-84 GOST 25599.4-83 GOST 12226-80 GOST 23402-78 GOST 1429.9-77 GOST 1429.3-77 GOST 1429.5-77 GOST 19014.3-73 GOST 19014.1-73 GOST 17235-71 GOST 16412.5-91 GOST 29012-91 GOST 26528-98 GOST 18897-98 GOST 26529-85 GOST 26614-85 GOST 26239.2-84 GOST 26239.0-84 GOST 26239.8-84 GOST 25947-83 GOST 25599.3-83 GOST 22864-83 GOST 25599.1-83 GOST 25849-83 GOST 25281-82 GOST 22397-77 GOST 1429.11-77 GOST 1429.1-77 GOST 1429.13-77 GOST 1429.7-77 GOST 1429.0-77 GOST 20018-74 GOST 18317-94 STAATLICHE NORM P 52950-2008 GOST P 52951-2008 GOST 32597-2013 GOST P 56307-2014 GOST 33731-2016 GOST 3845-2017 GOST R ISO 17640-2016 GOST 33368-2015 GOST 10692-2015 GOST P 55934-2013 GOST P 55435-2013 STAATLICHE NORM P 54907-2012 GOST 3845-75 GOST 11706-78 GOST 12501-67 GOST 8695-75 GOST 17410-78 GOST 19040-81 GOST 27450-87 GOST 28800-90 GOST 3728-78 GOST 30432-96 GOST 8694-75 GOST R ISO 10543-99 GOST R ISO 10124-99 GOST R ISO 10332-99 GOST 10692-80 GOST R ISO 17637-2014 GOST P 56143-2014 GOST R ISO 16918-1-2013 STAATLICHE NORM ISO 14250-2013 GOST P 55724-2013 GOST R ISO 22826-2012 GOST P 55143-2012 GOST P 55142-2012 GOST R ISO 17642-2-2012 GOST R ISO 17641-2-2012 GOST P 54566-2011 GOST 26877-2008 GOST R ISO 17641-1-2011 STAATLICHE NORM ISO 9016-2011 GOST R ISO 17642-1-2011 STAATLICHE NORM R 54790-2011 STAATLICHE NORM P 54569-2011 GOST P 54570-2011 STAATLICHE NORM P 54153-2010 GOST R ISO 5178-2010 GOST R ISO 15792-2-2010 GOST R ISO 15792-3-2010 GOST P 53845-2010 STAATLICHE NORM P ISO 4967-2009 GOST 6032-89 GOST 6032-2003 GOST 7566-94 GOST 27809-95 GOST 22974.9-96 GOST 22974.8-96 GOST 22974.7-96 GOST 22974.6-96 GOST 22974.5-96 GOST 22974.4-96 GOST 22974.3-96 GOST 22974.2-96 GOST 22974.1-96 GOST 22974.13-96 GOST 22974.12-96 GOST 22974.11-96 GOST 22974.10-96 GOST 22974.0-96 GOST 21639.9-93 GOST 21639.8-93 GOST 21639.7-93 GOST 21639.6-93 GOST 21639.5-93 GOST 21639.4-93 GOST 21639.3-93 GOST 21639.2-93 GOST 21639.0-93 GOST 12502-67 GOST 11878-66 GOST 1763-68 GOST 13585-68 GOST 16971-71 GOST 21639.10-76 GOST 2604.1-77 GOST 11930.7-79 GOST 23870-79 GOST 11930.12-79 GOST 24167-80 GOST 25536-82 GOST 22536.2-87 GOST 22536.11-87 GOST 22536.6-88 GOST 22536.10-88 GOST 17745-90 GOST 26877-91 GOST 8233-56 GOST 1778-70 GOST 10243-75 GOST 20487-75 GOST 12503-75 GOST 21548-76 GOST 21639.11-76 GOST 2604.8-77 GOST 23055-78 GOST 23046-78 GOST 11930.11-79 GOST 11930.1-79 GOST 11930.10-79 GOST 24715-81 GOST 5639-82 GOST 25225-82 GOST 2604.11-85 GOST 2604.4-87 GOST 22536.5-87 GOST 22536.7-88 GOST 6130-71 GOST 23240-78 GOST 3242-79 GOST 11930.3-79 GOST 11930.5-79 GOST 11930.9-79 GOST 11930.2-79 GOST 11930.0-79 GOST 23904-79 GOST 11930.6-79 GOST 7565-81 GOST 7122-81 GOST 2604.3-83 GOST 2604.5-84 GOST 26389-84 GOST 2604.7-84 GOST 28830-90 GOST 21639.1-90 GOST 5640-68 GOST 5657-69 GOST 20485-75 GOST 21549-76 GOST 21547-76 GOST 2604.6-77 GOST 22838-77 GOST 2604.10-77 GOST 11930.4-79 GOST 11930.8-79 GOST 2604.9-83 GOST 26388-84 GOST 14782-86 GOST 2604.2-86 GOST 21639.12-87 GOST 22536.8-87 GOST 22536.0-87 GOST 22536.3-88 GOST 22536.12-88 GOST 22536.9-88 GOST 22536.14-88 GOST 22536.4-88 GOST 22974.14-90 GOST 23338-91 GOST 2604.13-82 GOST 2604.14-82 GOST 22536.1-88 GOST 28277-89 GOST 16773-2003 GOST 7512-82 GOST 6996-66 GOST 12635-67 GOST 12637-67 GOST 12636-67 GOST 24648-90

GOST 26239.0−84-Silizium-Festkörper -, Quell-Produkte zum Erhalt und Quarz. Allgemeine Anforderungen an die Methoden der Analyse

GOST 26239.0−84

Gruppe В59


DER STAATLICHE STANDARD DER UNION DER SSR

SILIZIUM-FESTKÖRPER -, QUELL-PRODUKTE ZUM ERHALT UND QUARZ

Allgemeine Anforderungen an die Methoden der Analyse

Semiconductor silicon, raw materials for its production and quartz. General requirements for methods of analysis


ОКСТУ 1709

Gültigkeit: ab 01.01.86
bis 01.01.91*
_________________________________
* Beschränkung der Laufzeit aufgehoben
über N 7−95 Zwischenstaatlichen Rats
für Normung, Metrologie und Zertifizierung
(IUS N 11, 1995). — Anmerkung des Datenbankherstellers.



Wurde vom Ministerium für Metallurgie der UdSSR

DARSTELLER

J. A. Karpov, M. N. Щулепников, M. K. Vinnikov, G. G. Главин, N. Und. Градскова, O. W. Sawjalow, D. I. Зяблова, W. E., Quinn, C. A. Krylow, I. A. Kuzovlev, N. Und. Марунина, VG Мискарьянц, W. M. Mikhailov, M. G. Nazarov, V. A. Orlov, A. I. Stepanow, N. Mit. Syssojewa, V. I. Firsow, I. G. Alexandrow

EINGEFÜHRT durch das Ministerium für Metallurgie der UdSSR

Mitglied Des A. P. Снурников

GENEHMIGT UND IN Kraft gesetzt durch die Verordnung des Staatlichen Komitees der UdSSR nach den Standards vom 13. Juli 1984 N 2490

1. Diese Norm legt die Allgemeinen Anforderungen an Verfahren zur Analyse von Halbleiter-Silizium, Ausgangsmaterialien, um es zu erhalten (technisches Silizium, четыреххлористый Silizium, хлорсиланы, Siliciumdioxid) und Quarz.

2. Allgemeine Anforderungen an die Methoden der Analyse nach GOST 26239.0−84 (ST SEV 314−76).

3. Auswahl und Vorbereitung der Proben zur Analyse erfolgt nach den normativ-technischen Dokumentation.

4. Die analysierten Proben und die verwendeten Materialien für die Probenvorbereitung und Vergleiche von Standardlösungen, gewogen mit einer Abweichung von nicht mehr als 0,0002 G.

5. Für die Entnahme von Chargen verwenden die analytischen Präzisionswaagen Typ LEITUN-200-M oder WLR-20G, technische Personenwaage VAC-1, Torsion Waage W-500 GOST 13718−68 oder ähnliche Typen.

6. Zum erhitzen von Lösungen verwendet elektrische Fliesen mit einer geschlossenen Spirale nach GOST 14919−83.

7. Für die Herstellung von Lösungen und die Durchführung von Analysen verwendet destilliertes Wasser nach GOST 6709−72 und Reagenzien Qualifikation nicht unterhalb der H. D. A., sofern nicht anders angegeben.

8. Für die Analyse verwenden die gemessenen Lab Ware nicht unter der zweiten Genauigkeitsklasse nach GOST 20292−74* (Bürette, Pipette) und GOST 1770−74 (Zylinder, Becher, Flaschen) sowie Glaswaren (Bechergläser, konische Kolben etc.) nach GOST 25336−82, glühschälchen, Porzellan, GOST 9147−80, Quarz-Tiegel nach GOST 19908−80**, Trichter Glas делительные und konisch nach GOST 25336−82, бюксы Glas nach GOST 25336−82, exsikkatoren nach GOST 25336−82, das Geschirr aus glaskohlenstoff verwendet wird Marke SU-2000.
________________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation gelten GOST 29169−91, GOST 29227−91-GOST 29229−91, GOST 29251−91-GOST 29253−91;
** Auf dem Territorium der Russischen Föderation gilt GOST 19908−90. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

9. Verwenden Sie andere Instrumente, Materialien, Utensilien und Reagenzien, unter Erhalt der metrologischen Eigenschaften, die nicht schlechter als die in den entsprechenden Normen auf Methoden der Analyse.

10. In den Normen auf die Methoden der Analyse sind Werte der zulässigen Abweichungen bei einem Konfidenzniveau ГОСТ 26239.0-84 Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Общие требования к методам анализаvon 0,95 oder ГОСТ 26239.0-84 Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Общие требования к методам анализа0,90 für mehrere Werte der Massen-Anteil. Die zulässigen Abweichungen für Zwischenwerte berechnet mit der Methode der linearen Interpolation.

11. Die überprüfung der Richtigkeit der Analyseergebnisse des Halbleiter Silizium oder Ausgangsmaterialien für den Erhalt verbringen mindestens einmal im Monat und mindestens ГОСТ 26239.0-84 Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Общие требования к методам анализаeinmal im Monat, wo ГОСТ 26239.0-84 Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Общие требования к методам анализа — die Anzahl der Proben, analysierten pro Monat, unter Verwendung der gleichen Apparatur, Reagenzien und Materialien.

12. Richtigkeit der Analyseergebnisse Weise kontrollieren, die in den entsprechenden staatlichen Standards auf den Methoden der Analyse.

13. Sicherheitsanforderungen bei der Durchführung von Analysen Halbleiter Silizium und Ausgangsmaterialien erhalten — nach der normativ-technischen Dokumentation. Die Reihenfolge der Arten und die Ausbildung der Mitarbeiter von Arbeitssicherheit erfolgt in übereinstimmung mit GOST 12.0.004−79*.
________________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation gilt GOST 12.0.004−90. — Anmerkung des Datenbankherstellers.