Durch die Nutzung dieser Website erklären Sie sich die Verwendung von Cookies. Mehr über unsere Cookie Politik.

GOST 26239.5-84

GOST R ISO 15353-2014 STAAT GOST P 55080-2012 GOST R ISO 16962-2012 GOST R ISO 10153-2011 GOST R ISO 10280-2010 STAATLICHE NORM P ISO 4940-2010 STAATLICHE NORM P ISO 4943-2010 GOST R ISO 14284-2009 GOST R ISO 9686-2009 GOST R ISO 13899-2-2009 GOST 18895-97 GOST 12361-2002 GOST 12359-99 GOST 12358-2002 GOST 12351-2003 GOST 12345-2001 GOST 12344-88 GOST 12350-78 GOST 12354-81 GOST 12346-78 GOST 12353-78 GOST 12348-78 GOST 12363-79 GOST 12360-82 GOST 17051-82 GOST 12349-83 GOST 12357-84 GOST 12365-84 GOST 12364-84 STAATLICHE NORM P 51576-2000 GOST 29117-91 GOST 12347-77 GOST 12355-78 GOST 12362-79 GOST 12352-81 STAATLICHE NORM R 50424-92 STAATLICHE NORM P 51056-97 GOST P 51927-2002 GOST P 51928-2002 GOST 12356-81 GOST R ISO 13898-1-2006 GOST R ISO 13898-3-2007 GOST R ISO 13898-4-2007 GOST R ISO 13898-2-2006 STAATLICHE NORM P 52521-2006 GOST P 52519-2006 GOST P 52520-2006 GOST P 52518-2006 GOST 1429.14-2004 GOST 24903-81 GOST 22662-77 GOST 6012-2011 GOST 25283-93 GOST 18318-94 GOST 29006-91 GOST 16412.4-91 GOST 16412.7-91 GOST 25280-90 GOST 2171-90 GOST 23401-90 GOST 30642-99 GOST 25698-98 GOST 30550-98 GOST 18898-89 GOST 26849-86 GOST 26876-86 GOST 26239.5-84 GOST 26239.7-84 GOST 26239.3-84 GOST 25599.4-83 GOST 12226-80 GOST 23402-78 GOST 1429.9-77 GOST 1429.3-77 GOST 1429.5-77 GOST 19014.3-73 GOST 19014.1-73 GOST 17235-71 GOST 16412.5-91 GOST 29012-91 GOST 26528-98 GOST 18897-98 GOST 26529-85 GOST 26614-85 GOST 26239.2-84 GOST 26239.0-84 GOST 26239.8-84 GOST 25947-83 GOST 25599.3-83 GOST 22864-83 GOST 25599.1-83 GOST 25849-83 GOST 25281-82 GOST 22397-77 GOST 1429.11-77 GOST 1429.1-77 GOST 1429.13-77 GOST 1429.7-77 GOST 1429.0-77 GOST 20018-74 GOST 18317-94 STAATLICHE NORM P 52950-2008 GOST P 52951-2008 GOST 32597-2013 GOST P 56307-2014 GOST 33731-2016 GOST 3845-2017 GOST R ISO 17640-2016 GOST 33368-2015 GOST 10692-2015 GOST P 55934-2013 GOST P 55435-2013 STAATLICHE NORM P 54907-2012 GOST 3845-75 GOST 11706-78 GOST 12501-67 GOST 8695-75 GOST 17410-78 GOST 19040-81 GOST 27450-87 GOST 28800-90 GOST 3728-78 GOST 30432-96 GOST 8694-75 GOST R ISO 10543-99 GOST R ISO 10124-99 GOST R ISO 10332-99 GOST 10692-80 GOST R ISO 17637-2014 GOST P 56143-2014 GOST R ISO 16918-1-2013 STAATLICHE NORM ISO 14250-2013 GOST P 55724-2013 GOST R ISO 22826-2012 GOST P 55143-2012 GOST P 55142-2012 GOST R ISO 17642-2-2012 GOST R ISO 17641-2-2012 GOST P 54566-2011 GOST 26877-2008 GOST R ISO 17641-1-2011 STAATLICHE NORM ISO 9016-2011 GOST R ISO 17642-1-2011 STAATLICHE NORM R 54790-2011 STAATLICHE NORM P 54569-2011 GOST P 54570-2011 STAATLICHE NORM P 54153-2010 GOST R ISO 5178-2010 GOST R ISO 15792-2-2010 GOST R ISO 15792-3-2010 GOST P 53845-2010 STAATLICHE NORM P ISO 4967-2009 GOST 6032-89 GOST 6032-2003 GOST 7566-94 GOST 27809-95 GOST 22974.9-96 GOST 22974.8-96 GOST 22974.7-96 GOST 22974.6-96 GOST 22974.5-96 GOST 22974.4-96 GOST 22974.3-96 GOST 22974.2-96 GOST 22974.1-96 GOST 22974.13-96 GOST 22974.12-96 GOST 22974.11-96 GOST 22974.10-96 GOST 22974.0-96 GOST 21639.9-93 GOST 21639.8-93 GOST 21639.7-93 GOST 21639.6-93 GOST 21639.5-93 GOST 21639.4-93 GOST 21639.3-93 GOST 21639.2-93 GOST 21639.0-93 GOST 12502-67 GOST 11878-66 GOST 1763-68 GOST 13585-68 GOST 16971-71 GOST 21639.10-76 GOST 2604.1-77 GOST 11930.7-79 GOST 23870-79 GOST 11930.12-79 GOST 24167-80 GOST 25536-82 GOST 22536.2-87 GOST 22536.11-87 GOST 22536.6-88 GOST 22536.10-88 GOST 17745-90 GOST 26877-91 GOST 8233-56 GOST 1778-70 GOST 10243-75 GOST 20487-75 GOST 12503-75 GOST 21548-76 GOST 21639.11-76 GOST 2604.8-77 GOST 23055-78 GOST 23046-78 GOST 11930.11-79 GOST 11930.1-79 GOST 11930.10-79 GOST 24715-81 GOST 5639-82 GOST 25225-82 GOST 2604.11-85 GOST 2604.4-87 GOST 22536.5-87 GOST 22536.7-88 GOST 6130-71 GOST 23240-78 GOST 3242-79 GOST 11930.3-79 GOST 11930.5-79 GOST 11930.9-79 GOST 11930.2-79 GOST 11930.0-79 GOST 23904-79 GOST 11930.6-79 GOST 7565-81 GOST 7122-81 GOST 2604.3-83 GOST 2604.5-84 GOST 26389-84 GOST 2604.7-84 GOST 28830-90 GOST 21639.1-90 GOST 5640-68 GOST 5657-69 GOST 20485-75 GOST 21549-76 GOST 21547-76 GOST 2604.6-77 GOST 22838-77 GOST 2604.10-77 GOST 11930.4-79 GOST 11930.8-79 GOST 2604.9-83 GOST 26388-84 GOST 14782-86 GOST 2604.2-86 GOST 21639.12-87 GOST 22536.8-87 GOST 22536.0-87 GOST 22536.3-88 GOST 22536.12-88 GOST 22536.9-88 GOST 22536.14-88 GOST 22536.4-88 GOST 22974.14-90 GOST 23338-91 GOST 2604.13-82 GOST 2604.14-82 GOST 22536.1-88 GOST 28277-89 GOST 16773-2003 GOST 7512-82 GOST 6996-66 GOST 12635-67 GOST 12637-67 GOST 12636-67 GOST 24648-90

GOST 26239.5−84 Festkörper Silizium und Quarz. Methode zur Bestimmung von Verunreinigungen (mit Änderung N 1)


GOST 26239.5−84

Gruppe В59


DER STAATLICHE STANDARD DER UNION DER SSR

SILIZIUM-HALBLEITER UND QUARZ

Methode zur Bestimmung von Verunreinigungen

Semiconductor silicon and quartz. Method of Verunreinigungen determination


ОКСТУ 1709

Gültigkeit: ab 01.01.86
bis 01.01.91*
________________________________
* Beschränkung der Laufzeit aufgehoben
über N 7−95 Zwischenstaatlichen Rats
für Normung, Metrologie und Zertifizierung
(IUS N 11, 1995). — Anmerkung des Datenbankherstellers.



Wurde vom Ministerium für Metallurgie der UdSSR

DARSTELLER

J. A. Karpov, M. N. Щулепников, M. K. Vinnikov, G. G. Главин, N. Und. Градскова, O. W. Sawjalow, D. I. Зяблова, W. E., Quinn, C. A. Krylow, I. A. Kuzovlev, N. Und. Марунина, VG Мискарьянц, W. M. Mikhailov, M. G. Nazarov, V. A. Orlov, A. I. Stepanow, N. Mit. Syssojewa, V. I. Firsow, I. G. Alexandrow

EINGEFÜHRT durch das Ministerium für Metallurgie der UdSSR

Mitglied Des A. P. Снурников

GENEHMIGT UND IN Kraft gesetzt durch die Verordnung des Staatlichen Komitees der UdSSR nach den Standards vom 13. Juli 1984 N 2490

Es gibt eine Änderung N 1, genehmigt und eingetragen in Aktion mit 01.01.91 Verordnung des staatlichen Standards der UdSSR vom 26.06.90 N 1847

Änderung N 1 vorgenommen, der Hersteller der Datenbank nach Text IUS N 10, 1990


Diese Norm legt die Neutronen-Aktivierungs-Methode zur Bestimmung von Verunreinigungen in нелегированном Halbleiter-Silizium und Quarz in Abständen von Werten massiven Anteil an Verunreinigungen:

   
Wolfram

von 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)bis 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

Gallium

von 2·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)bis 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

Europium

von 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)bis 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

Eisen

von 2·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)bis 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

Gold

von 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)bis 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

Indien

von 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)bis 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

Kobalt

von 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)bis 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

Lanthan

von 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)bis 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

Lutetium

von 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)bis 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

Kupfer

von 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)bis 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

Molybdän

von 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)bis 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

Arsen

von 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)bis 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

Natrium

von 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)bis 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

Nickel

von 2·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)bis 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

Scandium

von 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)bis 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

Silber

von 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)bis 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

Antimon

von 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)bis 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

Tantal

von 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)bis 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

Chrom

von 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)bis 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

Zink

von 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)bis 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%


Die Methode gilt nicht für die Analyse von Silizium-Marken KES-0,01 und CAM-0,01.

(Geänderte Fassung, Bearb. N 1).

1. ALLGEMEINE ANFORDERUNGEN

1.1. Allgemeine Anforderungen an die Methode der Analyse — nach GOST 26239.0−84.

2. GERÄTE, MATERIALIEN UND REAGENZIEN


Kernreaktor mit einer Flussdichte der Neutronen 0,5−1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Neutron/(cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)·s) und кадмиевым Verhältnis von Gold in den Kanal für die Bestrahlung der Proben von 2−5.

Gamma-Spektrometer, bestehend aus einem vielkanal-Analysator (Anzahl der Kanäle des Analysators nicht weniger als 2000), gain-Block-Signale, Halbleiter германиевого oder Germanium-Lithium-Detektor mit фотоэффективностью Registrierung von Gamma-Quanten Leitung ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Mit mit einer Energie von 1332 keV nicht weniger als 1,5% (im Winkel ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)). Das Verhältnis Peak/Compton für ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Mit nicht weniger als 30:1. Die Auflösung des Spektrometers nicht mehr als 3 keV Linie ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Aus der mit der Energie von 1332 keV.

Boxen schützende Art 1Б11−1НЖ.

Container bleierne Transport-Marke KL-10,0 mm mit einer Wandstärke von 100 mm.

Container Blei-Desktop-Marke KT-10 mit einer Wandstärke von 10 mm.

Persönliche Schutzausrüstung gegen Strahlung und Kontamination mit radioaktiven Stoffen gemäß den Grundlegenden hygienischen Regeln Swaps 72/87*.
_______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation das Dokument nicht gültig. Gelten JV 2.6.1.799−99. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Federmäppchen Aluminium, hergestellt aus Aluminium der Marke 995-A.

Radiometer «Thieß".

Satz von beispielhaften Standard-Gamma-Strahler (ОСГИ).

Filter обеззоленные «Blaue Band».

Aluminiumfolie Marke 995-A mit einer Dicke von 0,05−0,1 mm, GOST 618−73.

Messkolben mit einem Fassungsvermögen von 50, 100, 1000 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1).

Messzylinder mit einem Fassungsvermögen von 10 und 25 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1).

Mikroliter Pipetten von 0,1 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)(first class).

Gläser PTFE-Kapazität von 150 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1).

Gläser Glas Chemische Kapazität von 100 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1).

Trockenschrank mit einer Temperatur bis zu 150 °C.

Ofen Muffelofen, industriemuffelofen Typ MP-2УМ.

Stickstoff flüssig nach GOST 9293−74.

Mörser und Pistill aus Achat oder Jaspis.

Fliesen Elektro.

Waage Labor nach GOST 24104−88*.
_______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation das Dokument nicht gültig. Wirkt GOST R 53228−2008. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Waage микроаналитические Typ ВЛМ-1 G.

Lampe Infrarot Art ИКЗ-220−500.

Aceton nach GOST 2603−79.

Destilliertes Wasser nach GOST 6709−72.

Salzsäure Reinheitsgrad nach GOST 14261−77.

Salpetersäure Reinheitsgrad nach GOST 11125−78*.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation das Dokument nicht gültig. Wirkt GOST 11125−84. — Anmerkung des Datenbankherstellers.


Säure фтористоводородная nach GOST 10484−78.

Schwefelsäure Reinheitsgrad nach GOST 14262−78.

Natrium-Hydroxid nach GOST 4328−77.

Natrium Sulfat Piro nach GOST 18344−78*.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation das Dokument nicht gültig. Arbeiten TU 6−09−5404−88** (N IUS 3, 1989);
** Das Dokument ist eine authentische Entwicklung. Für weitere Informationen wenden Sie sich bitte über den Link. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Ammonium виннокислый nach GOST 4951−79*.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation das Dokument nicht gültig. Arbeiten TU 6−09−08−2007−89** (N IUS 12, 1989);
** Das Dokument ist eine authentische Entwicklung. Für weitere Informationen wenden Sie sich bitte über den Link. — Anmerkung des Datenbankherstellers.

Ethylalkohol rektifiziert technisches nach GOST 18.300−87.


Ammonium молибденовокислый nach GOST 3765−78, H. H.

Gallium Metall nach GOST 12797−77.

Eisen карбонильное Funktechnik nach GOST 13.610−79, PS Marke.

Europium OXID Reinheit von 99,9%.

Gold nach GOST 6835−80*.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation das Dokument nicht gültig. Wirkt GOST 6835−2002. — Anmerkung des Datenbankherstellers.


Indium Metall nach GOST 10297−75*.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation das Dokument nicht gültig. Wirkt GOST 10297−94. — Anmerkung des Datenbankherstellers.


Dwuchromowokislyj das Kalium nach GOST 4220−75, H. H., getrocknet bis gewichtskonstanz bei 140 °C.

Kobalt ist ein Metall, nach GOST 123−78*, Marke K-1.
______________
*Auf dem Territorium der Russischen Föderation das Dokument nicht gültig. Wirkt GOST 123−2008. — Anmerkung des Datenbankherstellers.


Silizium-Festkörper -, Marken-KP-1−6.

Lanthan-OXID Reinheit von 99,9%.

Lutetium-OXID Reinheit von 99,9%.

Kupfer-Metall-mehlig nach GOST 859−78*, Marke M3.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation das Dokument nicht gültig. Wirkt GOST 859−2001. — Anmerkung des Datenbankherstellers.


Arsen-Metall-Reinheit von 99,9%.

Natrium вольфрамовокислый 2-Wasserstraße nach GOST 18289−78, H. H.

Das chlorhaltige Natrium nach GOST 4233−77, H. H., getrocknet bis gewichtskonstanz.

Nickel-OXID schwarz nach GOST 4331−78, H.

Silbernitrat nach GOST 1277−75, H. H., getrocknetes bis gewichtskonstanz bei 140 °C.

Scandium-OXID Reinheit von 99,9%.

Metallisches Antimon nach GOST 1089−82, Marke Cy-0000.

Tantal пятиокись Reinheit von 99,9%.

Zink-GOST 3640−79*.
______________
* Auf dem Territorium der Russischen Föderation das Dokument nicht gültig. Wirkt GOST 3640−94. — Anmerkung des Datenbankherstellers.


Standardlösung Natrium enthält 0,01 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Natrium: 0,0254 G Natriumchlorid, getrocknet bis gewichtskonstanz, wird in einen Messkolben überführt und mit 1000 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)und in destilliertem Wasser bis zur Markierung bringen, vermischen.

Standardlösung Silber enthält 0,002 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Silber: 0,00315 G Silbernitrat wurde in einen Messkolben überführt und mit 1000 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)aufgelöst und mit destilliertem Wasser bis zur Markierung bringen, vermischen.

Die Standard-Lösung von Molybdän und Chrom, die 0,01 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Molybdän und 0,01 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Chrom: 0,0184 G Ammoniummolybdat und 0,0283 G kaliumdichromat wird in einen Messkolben überführt und mit 100 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), aufgelöst in destilliertem Wasser bis zur Markierung bringen, vermischen.

Die primäre Lösung von Kupfer und Zink, enthaltend 0,1 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Kupfer-und 0,5 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Zink: 0,1000 G Kupfer und 0,5000 G Zink wird in einem Becherglas mit einem Fassungsvermögen von 100 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)und wurde unter erwärmen in 50 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Gemisch aus Salzsäure und Salpetersäure (1:5), nach der Auflösung von Kupfer und Zink wurde die Lösung abgekühlt und verlegen in einen Messkolben überführt und mit 1000 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), destilliertem Wasser bis zur Markierung gerührt. Von der basischen Lösung 10 cm nehmenГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)und entführen in einen Messkolben überführt und mit 100 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), destilliertem Wasser bis zur Markierung gerührt. Diese Lösung enthält 0,01 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Kupfer und 0,05 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Zink, Verwendung als Standard-Lösung.

Standardlösung Wolfram enthält 0,005 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Wolfram: 0,00897 G natriumwolframat Natrium, gelöst in destilliertem Wasser-dimensional in Glaskolben mit einem Fassungsvermögen von 1000 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), destilliertem Wasser bis zur Markierung, gerührt.

Die basische Lösung Tantal enthält 0,5 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Tantal: Oh, 0610 G пятиокиси Tantal legiert in einem Muffelofen mit 2 G пиросернокислого Natrium bei 900 °C, bis eine klare Schmelze. Die Schmelze wurde unter Rückfluss in 40 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)10%-igen Lösung виннокислого Ammonium, wurde die Lösung abgekühlt, übertragen in einen Messkolben überführt und mit 100 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), destilliertem Wasser bis zur Markierung, gerührt.

Standardlösung Tantal bereiten am Tag der Verwendung. Von der basischen Lösung ausgewählt 2 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), verlegen in einen Messkolben überführt und mit 1000 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)und bringen bis zur Markierung 8%-igen Lösung von виннокислого Ammonium, gerührt. In der Standard-Lösung von Tantal enthält 0,001 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Tantal.

Standardlösung Eisen, mit 10 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Eisen: Eisen 1,000 G wird in einem Becherglas mit einem Fassungsvermögen von 100 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), wurden 30 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)konzentrierter Salzsäure und 1,5 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Salpetersäure und erhitzt bis zur vollständigen Auflösung der Aufhängung, nach dem abkühlen der Lösung wird in einen Messkolben überführt und mit 100 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), destilliertem Wasser bis zur Markierung gerührt.

Kobalt-Standardlösung enthält 0,002 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Kobalt: 0,00200 G Kobalt wird in einem Becherglas mit einem Fassungsvermögen von 50 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)und gelöst in einem minimalen Volumen Salpetersäure, die Lösung wird in einen Messkolben überführt und mit 1000 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), destilliertem Wasser bis zur Markierung gerührt.

Arsen-Standardlösung, die 0,01 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Arsen: 0,0100 G Arsen wurde in einem Becherglas mit einem Fassungsvermögen von 50 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)und wurde unter erwärmen in 5 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Schwefelsäure, nach der Auflösung des Arsens Lösung verdampft, bis etwa 1 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), kühlen und transportieren in einen Messkolben überführt und mit 1000 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), destilliertem Wasser bis zur Markierung, gerührt.

Die basische Lösung Europium, Lutetium und Lanthan enthält 0,01 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Europium, 0,01 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Lutetium und 0,05 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Lanthan: 0,0116 G Europium-OXID, 0,0114 G Lutetium-OXID und 0,0596 G Lanthanoxid wird in einem Becherglas mit einem Fassungsvermögen von 100 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), wurden 20 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)konzentrierter Salzsäure, verdünnt mit destilliertem Wasser im Verhältnis 1:1, durch erwärmen gelöst, abgekühlt, übertragen in einen Messkolben überführt und mit 1000 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), destilliertem Wasser bis zur Markierung, gerührt. Von der grundlegenden Lösung ausgewählt 2,0 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)und wird in einen Messkolben überführt und mit 1000 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), destilliertem Wasser bis zur Markierung, gerührt.

Diese Lösung enthält 0,0002 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Europium, 0,0002 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Lutetium und 0,001 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Lanthan, verwendet als Standard-Lösung.

Die basische Lösung Scandium, enthaltend 0,1 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Scandium: 0,1500 G des Oxids von Scandium wird in einem Becherglas mit einem Fassungsvermögen von 100 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), fügen Sie 25 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)konzentrierter Salzsäure, verdünnt mit destilliertem Wasser im Verhältnis 1:1, durch erwärmen gelöst, nach dem abkühlen der Lösung wird in einen Messkolben überführt und mit 100 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), aufgefüllt bis zur Markierung mit destilliertem Wasser vermischen. Diese Lösung enthält 0,001 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Scandium, verwenden Sie als Standard-Lösung.

Die basische Lösung Antimon, enthaltend 0,01 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Antimon: 0,0100 G Antimon gelöst in 5 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Königswasser (1 Teil Salpetersäure und 3 Teile Salzsäure), wenn Sie erhitzt, nach dem entfernen der Stickoxide Lösung wird in einen Messkolben überführt und mit 1000 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), 6M verdünnt, mit Salzsäure bis zur Marke, gerührt. Von der basischen Lösung 10 cm nehmenГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)und entführen in einen Messkolben überführt und mit 100 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), bis zur Markierung bringen 6M salzsäurelösung gerührt. Diese Lösung enthält 0,001 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Antimon, Verwendung als Standard-Lösung.

Die primäre Lösung von Gold, enthaltend 0,01 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Gold: 0,0100 G Gold aufgelöst in 5 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Königswasser unter erhitzen, nach Entfernung der Stickoxide Lösung wird in einen Messkolben überführt und mit 1000 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), destilliertem Wasser bis zur Markierung, gerührt. Von der basischen Lösung ausgesuchte 2,0 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)und entführen in einen Messkolben überführt und mit 100 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), destilliertem Wasser bis zur Markierung, gerührt. Diese Lösung enthält 0,0002 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Gold, verwenden als Standard-Lösung von Gold.

Standardlösung Nickel, mit 0,5 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Nickel: 0,0704 G Nickel-OXID wird in einem Becherglas mit einem Fassungsvermögen von 50 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)und aufgelöst in 10 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)verdünnter Salpetersäure, die Lösung wird in einen Messkolben überführt und mit 100 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), destilliertem Wasser bis zur Markierung, vermischen.

Standardlösung Indien, enthaltend 0,01 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Indien: Indien 0,0100 G wird in einem Becherglas mit einem Fassungsvermögen von 50 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)und durch erwärmen gelöst in einem minimalen Volumen von Königswasser (1 Teil Salpetersäure und 3 Teile Salzsäure), nach dem abkühlen der Lösung wird in einen Messkolben überführt und mit 1000 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), destilliertem Wasser bis zur Markierung gerührt.

Gallium-Standardlösung, die 0,01 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Gallium: 0,0100 G Gallium gelöst in einem minimalen Volumen von Königswasser (1 Teil Salpetersäure und 3 Teile Salzsäure) in einem Becherglas mit einem Fassungsvermögen von 50 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), wenn Sie erhitzt, nach dem abkühlen der Lösung wird in einen Messkolben überführt und mit 1000 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), aufgefüllt bis zur Markierung 1%-iger Salzsäure gerührt.

(Geänderte Fassung, Bearb. N 1).

3. VORBEREITUNG FÜR DIE ANALYSE

3.1. Vorbereitung der zu analysierenden Proben und Proben Vergleich zur Bestrahlung

Federmäppchen für die Bestrahlung und Alufolie für die Verpackung von Proben und Vergleich der Proben mit Aceton gewaschen, dann mit Alkohol.

Von jeder zu analysierende Probe nehmen Probe zwei Dicke 2−3 mm, mit einem Gewicht von 4−6 G, angeordnet jede wiegt in Alu-Paket, Paket etikettiert.

Die Gesamtmasse der zu analysierenden Proben in penale sollte nicht mehr als 30 G.

Von jeder Standardlösung genommen auf 0,1 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)und накапывают in einzelne Streifen aus Filterpapier «Blaue Band», in der Größe 1x3 cm, getrocknet unter der Wärmelampe, dann den Streifen faltet sich in drei Schichten bis zu einer Größe von 1x1 cm und in Alufolie wickeln, Etikettieren. Im Container für die Bestrahlung gleichzeitig mit der Probe platziert jeweils zwei Referenzwerte für jedes Element definiert. In jeder Probe des Vergleichs enthält: Wolfram 0,0005 mg, 0,001 mg Gallium, Europium 0,00002 mg, Eisen 1,0 mg, Gold 0,00002 mg, Indien 0,001 mg, Kobalt 0,002 mg, 0,0001 mg Lanthan, Lutetium 0,00002 mg, Kupfer 0,001 mg, Molybdän 0,001 mg, 0,001 Arsen mg, 0,005 mg Natrium, Nickel 0,5 mg, 0,0001 mg Scandium, Silber 0,0002 mg, 0,0001 mg Antimon, Tantal 0,0001 mg, 0,001 Chrom mg, Zink 0,005 mg.

In jedes Federmäppchen für die Bestrahlung platziert einen Streifen Filterpapier, die vorbereitete und verpackte wie oben beschrieben, aber ohne накапанных Sie auf Standard-Lösungen.

Federmäppchen mit den untersuchten Proben und Vergleich der Proben bestrahlt in einem Kernreaktor für:

100 Bstd., wenn die erwarteten Massenanteil von Verunreinigungen, die Sie bestimmen, beträgt weniger als 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)% der Masse;

10 h, wenn der erwartete Massenanteil von Verunreinigungen, die definiert werden muss, beträgt mehr als 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)gew. -%

Die bestrahlten Proben in das Labor transportiert bleiern in einem Frachtcontainer CL-10,0.

(Geänderte Fassung, Bearb. N 1).

4. DIE DURCHFÜHRUNG DER ANALYSE

4.1. Die Verarbeitung der zu analysierenden Proben und Proben nach Bestrahlung Vergleich

Federmäppchen mit den untersuchten bestrahlten Proben und Proben des Vergleichs wird in schützender Box Typ 1Б11−1НЖ. 25−30 h nach der Bestrahlung analysiert Proben von Aluminium-Pakete und wurde in einer PTFE-Gläser und dreimal in protrawliwajut von frisch zubereiteten Gemisch aus Salpetersäure und Fluor-Säure (5:1). Jedem ätzen mit 20−40 ohne Heizung. Nach saurem ätzen der Probe mit 10% iger Lauge innerhalb von 40−80 S. Nach jedem ätzen der Proben mit Wasser gewaschen, und nach Abschluss der alkalischen Beizen getrocknet unter der Infrarot-Lampe, gewogen auf der analytischen Waage gewogen, in Alufolie Verpacken, Etikettieren.

Proben vergleichen und den Streifen Filterpapier ohne накапанных Sie entfernen von Standardlösungen aus Aluminium — - Pakete und wird in необлученные Aluminium-Pakete.

Die analysierten Proben und Proben des Vergleichs wird in verschiedene schützende Behälter des Typs CT.

4.2. Vorbereitung der Gamma-Spektrometer zur Messung der Aktivität und die Messung der Aktivität der zu analysierenden Proben und Proben vergleichen

Messung der Aktivität der untersuchten Proben und Vergleich der Proben vorausgeht Kalibrierung des Spektrometers durch die Energie mit Hilfe des Satzes ОСГИ. Bei der Kalibrierung ausgewählt ist der gain-Wert von Signalen, bei der auf der 1-Kanal-Analysator entfielen 0,7−1,0 keV.

Vor der Messung der Aktivität der Proben gemessen innerhalb von 30−40 min das Niveau des natürlichen Hintergrunds des Detektors. Wenn im Spektrum vorhanden sind Gamma-Linien der Radionuklide, die identifiziert werden können, wie künstlich radioaktive Stoffe, Maßnahmen zur Verringerung des Hintergrunds auf das Niveau des natürlichen Hintergrunds des Detektors, durch den natürlich radioaktiven Elementen, die sich in den Materialien, die um den Detektor (Wände, Schutz usw.).

Bei der Messung der Aktivität von Proben und Proben den Vergleich einlegen des Spektrometers sollte nicht dazu führen, dass Verzerrungen der Form der Verteilung der Amplitude um mehr als 10%.

Wenn notwendig, reduzieren Sie die Last des Spektrometers von Bremsstrahlung, verursacht durch Radionuklide, gebildet vom Silikon und von niederenergetischen Gammastrahlen der Radionuklide störelemente, verwenden die Filter-emissions — Schicht 3 mm Aluminium und eine Schicht aus Eisen von der Dicke 3−4 mm.

Wenn notwendig, reduzieren Sie die Last des Spektrometers nur von niedrig-Energie der Strahlung von Radionukliden störelemente, verwenden Sie die Filter-emissions — Schicht Aluminium 2 mm und Schicht Blei 2−3 mm.

Als analytischer nutzen die Gamma-Linien der Radionuklide, die sind in der Tabelle gezeigt.1.

Tabelle 1

     
Definiert ein Element (Radionuklid) Halbwertszeit Radionuklid
Energie analytische Gamma-Linien, keV*

Wolfram (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)W)

23,9 h 686

Gallium (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Ga)

14,1 h 834

Europium (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Eu)

9,3 h 841

Eisen (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Fe)

44,6 Tage 1099

Gold (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Au)

2,7 Tage 412

Indium (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)In)

49,5 Tage 192

Cobalt (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Co)

5,26 Jahre 1332

Lanthan (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)La)

40,2 h 1596

Lutetium (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Lu)

6,7 Tage 208

Kupfer (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Cu)

12,8 h 511

Molybdän (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Mo)

66,0 h 140

Arsen (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)As)

26,3 h 559

Natrium (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Na)

15,0 h 1368

Nickel (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Co)

71,3 Tag 811

Silber (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Ag)

253 Tage 657

Scandium (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Sc)

84,0 Tage 889

Antimon (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Sb)

2,71 Tag 564

Tantal (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Ta)

115 Tage 1189

Chrom (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Cr)

27,7 Tage 320

Zink (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Zn)

14,0 h 439

______________
* Fremdsprachlicher Multiplikator 1 keV=1,602·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Erg


Zeit der Messung Aktivität der untersuchten Proben hängt vom Inhalt der definierten Elemente und beträgt 1−6 Stunden Zeit zur Messung der Aktivität von Proben vergleichen und Streifen aus Filterpapier, auf die nicht накапан Standardlösung, beträgt 1−3 min Haltezeit der Proben hängt von der Massenanteil und die Verhältnisse der Spurenelemente in den untersuchten Proben. Für versuche, bei denen der Massenanteil высокоактивирующихся Spurenelemente (Natrium, Scandium, Kobalt, Kupfer, Gallium, Arsen, Brom, Antimon, seltene Erden, Hafnium, Tantal, Wolfram, Rhenium, Iridium und Gold) nicht mehr (1−3)·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, Wolfram, Gallium, Europium, Lanthan, Kupfer, Arsen, Natrium und Zink wird durch die Verweilzeit von 20−30 h und die restlichen Elemente: bei Haltezeiten 60−100 H. Wenn der Massenanteil der oben genannten высокоактивирующихся weniger Elemente (1−3)·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, erlaubt die gleichzeitige Bestimmung aller Elemente nach Berührung innerhalb von 25−30 H.

Die Spektren der Proben decodieren nach den Energien der intensivsten Gamma-Linien der Radionuklide festgelegten Elemente mithilfe der Kalibrierung des Spektrometers nach Energie und nach der Lage der analytischen Gamma-Linien in den Spektren von Proben zu bekommen.

4.1, 4.2. (Geänderte Fassung, Bearb. N 1).

5. DIE VERARBEITUNG DER ERGEBNISSE

5.1. Massive Anteil ermittelter Elemente (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)) in Prozent berechnen nach der Formel

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1),


wo ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — die Anzahl der Impulse in der analytischen Höhepunkt des Radionuklids eines Elements im Spektrum der analysierten Probe, imp;

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — Anzahl der Impulse in der analytischen Höhepunkt im Spektrum der Vergleich der Proben 1 und 2 entsprechend, imp;

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — Zeitpunkt der Messung des Spektrums des zu analysierenden Probe und Vergleich der Proben 1 und 2 entsprechend, min.

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — die Masse der analysierten Probe, mg;

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — Inhalt des Elements in der Probe des Vergleichs, mg;

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — Korrekturfaktor, bedingt durch den Unterschied in den geometrischen Abmessungen des zu analysierenden Probe und Vergleich der Proben; befindet sich experimentell für jedes Detektors (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)1);

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — Halbwertszeit des Radionuklids;

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — Zeitspanne zwischen dem Zeitpunkt der Messung des Spektrums der Probe Vergleich 1 und Vergleich Probe 2 und der Mitte der Zeit der Messung des Spektrums des zu analysierenden Probe.

Änderungen auf den Zerfall der Radionuklide können nicht berücksichtigt werden, wenn ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), wo ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)gibt es ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)oder ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), D. H. in der Regel bei der Berechnung der Massenanteil von Scandium, Chrom, Cobalt, Eisen, Silber, Lutetium, Indium, Tantal, Antimon. In diesem Fall

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1).


Korrekturfaktor ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), berücksichtigt unterschiedliche Formen der zu analysierenden Proben und Proben vergleichen, experimentell bestimmen. Bestrahlt wurde eine Probe Silizium (Quarz) Masse und Form, die annähernd анализируемым Proben. Diese muss gewogen Verunreinigungen enthalten Elemente, aus denen sich Radionuklide mit Gamma-Energien-Linien im Bereich von 0,1−0,2 MeV, 0,4−0,5 MeV und 1−1,3 MeV. Solche Elemente sind z.B. Wolfram und Tantal, Hafnium und Kobalt und andere. diese Elemente können eingegeben werden als Zusatzstoffe (Massenanteil 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)-10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%) in Silizium oder Quarz, zu einem Pulver zerriebene Zustand in агатовой einem Mörser unter einer Schicht Alkohol, oder kann verwendet werden, Silizium, dotiertem diesen Elementen. Nach der Bestrahlung Messen die spezifische Intensität der jeweiligen Gamma-Linien (imp/min·mg) für die gesamte Probe ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)und Teile der Aufhängung (Größe 1x1 cm, Gewicht 100−200 mg) ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1). Das Verhältnis ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)gibt den Wert für den Korrekturfaktor ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)für die Energie der entsprechenden Gamma-Linie. Die Werte ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)für Zwischenwerte von analytischen Gamma-Linien finden, die Methode der linearen Interpolation.

Bei der Bestimmung des Kupfers auf der Linie аннигилляционного Strahlung ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Cu (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)511 keV) Sie müssen berücksichtigen die Möglichkeit des Beitrags der Gamma-Linie ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)W (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)die 511,6 keV) und Linien аннигилляционного Strahlung von Radionukliden ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Na, ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Ga und ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Zn. Mit diesem Ziel Messen die Aktivität des zu analysierenden Probe und stellen die Verfügbarkeit im Spektrum von Radionukliden Wolfram, Gallium, Natrium und Zink. Wenn irgendwelche der aufgezählten Elemente ist in der analysierten Probe, dann in den Proben Vergleich dieser Elemente misst nicht nur die Intensität der analytischen Gamma-Linien, sondern auch die Intensität der Linien mit einer Energie von 511 keV und für die 511,6 Wolfram keV.

Bei der Berechnung der Massenanteil von Kupfer in der analysierten Probe Silizium die Anzahl der Impulse in der analytischen Höhepunkt ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Cu (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)) bestimmt durch die Formel

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1),


wo ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — die Anzahl der Impulse in der Gamma-Linie mit einer Energie von 511 und die 511,6 keV, die durch die Strahlung der ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Cu-Strahlung und Radionuklide der Elemente-Interferenz, imp;

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — Anzahl der Impulse in der analytischen Gamma-Linie des Radionuklids eines Elements-Störsignale im Spektrum der analysierten Probe, imp (für ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Na — 1368 keV, ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Zn — 1115 keV ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Ga — 834 keV, ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)W — 686 keV);

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — Pulsrate Impulse pro Gamma-Linie 511 keV (für die 511,6 Wolfram keV) im Spektrum der Probe des Vergleichs imp/min;

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — Geschwindigkeit der Impulse in der analytischen Gamma-Linie des Radionuklids eines Elements-Störsignale im Spektrum der Probe vergleichen, imp/min;

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — die Anzahl der Radionuklide-Interferenz, die in Erwägung gezogen.

Bei der Definition von Indien über die Gamma-Linie ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)In ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)192 keV Beitrag Gamma-Linien ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Fe berücksichtigen wie oben beschrieben für Kupfer.

Die Anwesenheit von definierten Elementen (meistens Natrium -, Kupfer-und Scandium) in Streifen Löschpapier, auf die накапывают Standardlösungen berücksichtigen, die durch die Formel

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1),


wo ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — Pulsrate Impulse analytischen Gamma-Linie des Radionuklids eines Elements, aufgrund der Gehalt an diesem Element, накапанным der Referenzwerte, imp/min;

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — Pulsrate Impulse analytischen Gamma-Linie des Radionuklids eines Elements, die bei der Messung der Referenzwerte, imp/min;

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — Pulsrate Impulse Gamma-Linie des Radionuklids eines Elements, aufgrund der Anwesenheit dieses Elements in Filterpapier, imp/min.

Für jede benutzerdefinierte Beimischung für das Ergebnis der Analyse nehmen das arithmetische Mittel der beiden Ergebnisse parallele Definitionen durchgeführt, die aus jeder einzelnen Probe wie in PP.3.1; 4.1; 4.2 und 5.1.

5.2. Die Differenz des größeren und des kleineren der beiden Ergebnisse paralleler Definitionen nicht überschreiten absoluten Werte der zulässigen Abweichungen für die Konfidenzniveau ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)0,90, sind in der Tabelle gezeigt.2.

5.3. Zur überprüfung der Richtigkeit der Analyse-Ergebnisse bereiten künstliche Mischung (N 1−4) auf der Basis von Halbleiter-Silizium, die in агатовой einem Mörser zu einem Pulver Zustände, in die injiziert definierbare Elemente der Einführung der zuvor пригоповленных von Standardlösungen (Kap.2). Das pulverförmige Silicium vorab prüfen Neutronen-активационным Methode auf die Inhalte aller definierten Elemente. Ermittelter Massenanteil der Elemente in Pulver-Silikon sollte nicht mehr als 20% des Inhalts der Elemente, die in Form von Nahrungsergänzungsmitteln aus der Lösung.

Der Massenanteil der einzelnen Additiven sollte mindestens dreifachen Wert der unteren Grenze ermittelter Inhalte der Elemente nach der Methode und nicht mehr die Obere Grenze der ermittelten Inhalte der Elemente.

Tabelle 2

     
Definierten Element Der Massenanteil eines Elements, % Absolute zulässige Abweichung, %
Eisen, Nickel

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,30·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

2,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

Molybdän, Chrom, Zink, Lutetium

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,30·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

5,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

2,2·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

5,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

2,2·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,5·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

Indium

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,30·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,40·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,50·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

Wolfram, Europium, Lanthan, Arsen

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,25·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,50·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

Gallium

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,30·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

2,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

Kupfer

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,30·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,50·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

Natrium

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,25·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,50·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

Silber

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,30·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,50·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

Gold, Scandium

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,30·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,50·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

Cobalt, Antimon, Tantal

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,30·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,50·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)



Das pulverförmige Silicium wird in агатовую Mörser, verabreicht Lösungen definierbare Elemente, dann unter einer Schicht von Alkohol peretirajut Mischung aus 2,5−3 h getrocknet und die Mischung unter die Infrarot-Lampe bis zur Konstanten Masse.

Mischung 1: 10,0 G der pulverförmigen Silizium Hinzugefügt 0,1 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Lösungen mit Natrium, Lanthan, Europium, Lutetium und Scandium. Massenanteil Natrium in der resultierenden Mischung beträgt 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, Lanthan 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, Europium 2,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, Lutetium 2,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, Scandium 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%.

Mischung 2: 10,0 G der pulverförmigen Silizium zugegeben, um 0,05 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Lösungen, die Silber und Chrom, 0,1 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Lösungen, die Antimon und Molybdän. Massenanteil Silber in der Mischung beträgt 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, Chrom 5,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, Antimon 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)% und Molybdän 5,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%.

Mischung 3: 10,0 G der pulverförmigen Silizium zugegeben, um 0,05 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Lösungen, die Kobalt und Tantal, 0,02 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)einer Lösung, die Eisen, und 0,1 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Lösungen mit Arsen und Gallium. Massenanteil von Kobalt in der resultierenden Mischung beträgt 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, Tantal 5,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, Eisen 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, Arsen 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%
und Gallium 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%.

Mischung 4: 10,0 G der pulverförmigen Silicium zugesetzt 0,05 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)einer Lösung, enthaltend Kupfer und Zink, 0,1 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)einer Lösung, die Gold, 0,02 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)einer Lösung, enthaltend Nickel und 0,1 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)einer Lösung, enthaltend Indium. Der Massenanteil des Kupfers in der Mischung beträgt 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, Zink 5,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, Gold 2,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, Wolfram 5,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, Nickel 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)% und Indien von 5,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%.

Von jedem der hergestellten Gemischen drei ausgesuchte Probe von 2,0 G und analysieren nach den Ansprüchen.3.1−4.3 und nach ABS.5.

Die Einwirkzeit Chargen der künstlichen Mischungen bei der Bestimmung der Elemente sind in der Tabelle aufgeführt.3.

Tabelle 3

     
Nummer der Mischung
Definierten Element Einwirkzeit, h
1
Natrium, Europium 30−70
  Lanthan 50−80
  Lutetium, Scandium Mehr als 100
2
Molybdän, Antimon 30−70
  Silber, Chrom Mehr als 100
3
Gallium, Arsen 30−40
  Kobalt, Eisen, Tantal Mehr als 100
4
Wolfram, Kupfer, Zink 30−40
  Indium, Nickel Mehr als 100
  Gold 80−120



Für jede benutzerdefinierte Verunreinigungen erhalten das Ergebnis der Analyse (abzüglich der Massenanteil des Elements in pulverförmigen Silizium bis zur Einführung der Ergänzungen) als das arithmetische Mittel der drei Ergebnisse von parallelen Definitionen, verbrachte jede Probe 2,0 G. die Analyse ist dann richtig, wenn dabei gefundenen Werte Massenanteil von Verunreinigungen (%) sind innerhalb von: Wolfram 5,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)±0,8·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), Gallium 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)±0,2·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), Europium 2·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)±0,4·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), Gold 2,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)±0,4·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), Kobalt 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)±0,2·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), Lutetium 2,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)±0,4·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), Molybdän 5,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)±1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), Natrium 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)±0,2·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), Scandium 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)±0,2·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), Antimon 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)±0,2·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), Chrom 5,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)±1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1).

Die zulässigen Abweichungen für Zwischenwerte massiven Anteil finden Methode zur Interpolation der linearen.

(Geänderte Fassung, Bearb. N 1).